El documento describe un microscopio de efecto túnel (STM), el cual utiliza sondas para examinar la superficie de una muestra a nivel atómico sin dañarla, y puede mapear formas atómicas y moleculares mediante el efecto túnel cuántico para proveer imágenes detalladas de materiales conductores. Adicionalmente, el microscopio de ionización de campo (FIM) puede visualizar la disposición atómica en la punta de una aguja metálica con resolución atómica.