El documento describe diferentes tipos de análisis metalográficos que se utilizan para determinar las características estructurales de los metales y aleaciones a nivel microscópico. Estos análisis incluyen microscopía óptica, microscopía electrónica de barrido y microscopía electrónica de transmisión, los cuales permiten analizar el tamaño de grano, fases y defectos presentes. CYTI cuenta con la capacidad de realizar estos análisis utilizando equipos como microscopios ópticos y
1. UNIDAD III
3.2TIPO DE ANALISIS METALOGRÁFICOS
Procedimiento usado por los metalurgistas con el fin de: con el fin de:
1) Determinación del tipo de material con ayuda dela determinación del tipo de
micro estructura presente en este.
2) Para identificar fallas en piezas damnificadas.
El análisis metalográfico es el estudio microscópico de las características
estructurales de un metal o aleación. Es posible determinar el tamaño de grano, y
el tamaño, forma y distribución de varias fases e inclusiones que tienen efecto
sobre las propiedades mecánicas del metal.
El estándar más común para el análisis metalográfico es el ASTM E-3.
De igual forma CYTI tiene la capacidad para realizar la técnica de replicas
Metalográficas en campo conforme al estándar ASTM E-1351.
Las probetas utilizadas en esta prueba son de varias formas y tamaños mientras
puedan ser colocadas en la platina del equipo.
CYTI cuenta con taller de maquinado de probetas lo que permite reducir
enormemente los tiempos de entrega de resultados y garantiza un apego a los
estándares.
2. Los informes de resultados constan de interpretación microestructural, de tamaño
de grano, análisis de fases así como de fotos de la microestructura.
Para llevar a cabo este análisis CYTI cuenta con un microscopio marca Carl Zeiss
que contiene programas de computadora para realizar mediciones de tamaño de
grano, de hojuelas y nódulos de grafito y de fases.
3.2.1 Microcopia Óptica (MO)
La microscopia óptica estudia los componentes del microscopio y esta basada en
la observación de elementos que a simple vista no son visibles, o difícil de ver en
detalle, esta disciplina nos permite apreciar la estructura de organismos de
dimensiones ínfimas con la ayuda del microscopio .Actualmente el microscopio es
un instrumento de uso cotidiano en laboratorios de diagnóstico y de investigación,
en diversas áreas como la bacteriología, patología, micología y como la histología.
Por esto es necesario conocer sus componentes y principios de funcionamiento
como sus sistema de iluminación: fuente de luz, filtros y diafragma, el sistema
mecánico: base, brazo, platina, tornillos, revolver, tubo y cabezal y el sistema
óptico: condensador, objetivos, prismas y oculares.
La utilización de lentes para observar elementos aumentados se conocía desde
tiempos de Arquímedes, pero la óptica como disciplina se vino a desarrollar
durante el siglo XIII con el monje franciscano Roger Bacon. La invención del
microscopio compuesto (combinación de varias lentes) permitió el desarrollo de la
microscopía y de avances en materia como la botánica y la biología celular; su
invención se atribuye a diversos personajes históricos como Hans y Zacharias
Janssen, Galileo Galilei, Cornelius Drebbel, Robert Hooke y Anton van
Leeuwenhoek, siendo Hooke, en el año 1655, quien describe las primeras células
(celdas) en cortes de corcho, y van Leeuwenhoek, en el año 1674, quien descubre
a protozoos y posteriormente bacterias, a los que llamó “animalículos”.
3. Por medio de algunas de las técnicas de microscopia (de reflexión, de
polarización, interferencia) es posible ver las características morfológicas de
bacterias, las que sólo miden unas cuantas micras.
1 * Ocular: lente situada cerca del ojo del observador. Capta y amplía la imagen
formada en los objetivos.
2 * Objetivo: lente situada cerca del revolver. Amplía la imagen, es un elemento
vital que permite ver a través de los oculares
3 * Condensador: lente que concentra los rayos luminosos sobre la preparación.
4 * Diafragma: regula la cantidad de luz que llega al condensador.
5 * Foco: dirige los rayos luminosos hacia el condensador.
6 * Tubo: es una cámara oscura unida al brazo mediante una cremallera.
7 * Revólver: Es un sistema que agarra los objetivos, y que rota para utilizar un
objetivo u otro
8 * Tornillos macro y micrométrico: Son tornillos de enfoque, mueven la platina
hacia arriba y hacia abajo. El macrométrico lo hace de forma rápida y el
micrométrico de forma lenta. Llevan incorporado un mando de bloqueo que fija la
platina a una determinada altura.
9 * Platina: Es una plataforma horizontal con un orificio central, sobre el que se
coloca la preparación, que permite el paso de los rayos procedentes de la fuente
de iluminación situada por debajo. Dos pinzas sirven para retener el portaobjetos
sobre la platina y un sistema de cremallera guiado por dos tornillos de
desplazamiento permite mover la preparación de delante hacia atrás o de
izquierda a derecha y viceversa.
10 * Base: Es la parte inferior del microscopio que permite el sostén del mismo
4. 3.2.2 Microcopia Electrónica de Barrido (MEB)
La microscopía electrónica de barrido permite la observación y caracterización de
materiales orgánicos e inorgánicos en escalas nanométricas y micrométricas;
además de tener la capacidad de obtener imágenes tridimensionales de
superficies en un amplio rango de materiales. El mayor uso de la microscopía
electrónica de barrido es el de obtener imágenes topográficas a muy altas
magnificaciones.
En CYTI se cuenta con un microscopio electrónico de barrido marca Carl Zeiss
modelo EVO MA15 para realizar los análisis con esta técnica.
La emisión secundaria se utiliza en la construcción de la imagen en el MEB, el
cual a diferencia de los MET, posee un haz móvil de electrones que “barre” o
recorre el espécimen en áreas seleccionadas.
La microscopia electrónica de barrido, en sus diversas modalidades, surge en
forma experimental entre los años 1930 y 1940, en Alemania. En 1935, Knoll
propone un instrumento bastante similar a los actuales, destinado a estudiar
fenómenos de emisión secundaria. En 1938, Von Ardenne diseña un nuevo tipo de
microscopio, con el objeto de estudiar muestras relativamente gruesas. Este
instrumento operaba con lentes electrostáticas y barrido electromagnético, pero
carecía de dispositivos de amplificación y pantalla de observación. El haz de
electrones atravesaba la muestra e incidía directamente sobre una placa
fotográfica que se desplazaba en sincronía con el haz, pero a mayor velocidad.
Las imágenes en este instrumento sólo podían observarse una vez obtenida las
placas fotográficas. Von Ardenne sugirió también la posibilidad de onservar la
superficie de cuerpos opacos, recogiendo y amplificando los electrones
secundarios emitidos por ellas, para modular la intensidad del haz de un tubo de
rayos catódicos.
Un MEB moderno consta esencialmente de las siguientes partes :
5. Una unidad óptica-electrónica, que genera el haz que se desplaza sobre la
muestra.
Un portamuestra, con distintos grados de movimientos.
Una unidad de detección de las señales que se originan en la muestra,
seguida de un sistema de amplificación adecuado.
Un sistema de visualización de las imágenes ( tubo de rayos catódicos ).
Un sistema de vacío, un sistema de refrigeración y un sistema de suministro
eléctrico, relativamente similares a los del MET.
Un sistema de registro fotográfico, magnético o de video.
Un sistema de procesamiento de la imagen con ayuda computacional (
optativo ).
3.2.3 Microscopia Eléctrica de Transmisión (MET)
A diferencia de los anteriores microscopios, este no explora superficies, por el
contrario el haz de electrones incidente atraviesa la muestra o espécimen
observado y la sombra de detalles finos o ultra-estructura es capturada en una
pantalla fosforescente con propiedades de emisión de luz, ubicada en la parte
inferior de la columna. El tener una adecuada preparación de la muestra da lugar a
una excelente definición de imagen. Son múltiples las facetas el las que interviene
este tipo de microscopio. Así, en control de calidad señalamientos morfológicos,
conformación de agregados, técnicas forenses, determinación de estratos en
restauración y diferenciación histológica entre otros.
En la construcción de microscopios electrónicos
(1), se han usado con resultados satisfactorios ambos tipos de lentes:
electrostáticas y magnéticas. Con todo, la mayor parte de los microscopios
electrónicos hoy día en uso son magnéticos.
6. Algunos instrumentos no poseen lente condensadora, otros en cambio tienen dos,
mientras otro grupo de aparatos posee solamente una lente proyectora. Aunque
los detalles de construcción varíen de un tipo a otro, se puede obtener una visión
cualitativa de conjunto de sistema óptico.
La fuente de electrones (2)esta constituida por un hilo de volframio en forma de
horquilla, rodeado por una pantalla cilíndrica polarizada negativamente respecto al
filamento( figura 3). Después de atravesar el ánodo conectado a tierra, la mayor
parte de los electrones del haz se pierden en las paredes y aberturas excepto un
estrecho cono que atraviesa el diafragma del condensador.
La lente condensadora se usa tanto para controlar la intensidad luminosa, como
para variar la abertura de iluminación relativa en el objeto. Los diámetros de los
diafragmas del condensador varían según el tipo de instrumento, pero suelen estar
comprendidos entre 0,1 y 0,5 mm. Después de atravesar el objeto, donde muchos
electrones se esparcen, el haz penetra en el campo de la lente objetivo que
produce una imagen aumentada del objeto. En el objetivo se suele colocar un
diafragma de 10 a 100 µ de diámetro para interceptar los electrones esparcidos ,
pero generalmente esta precaución se omite en el estudio de muestras muy
delgadas en las que el esparcimiento no es excesivo. Puesto que para las
distancias usuales entre lente e imagen, el aumento obtenido con la lente objetivo
es del orden de X100 a X300, sera necesario el uso de una o mas lentes
protectoras que vuelvan a aumentar la image.
7. ALUMNO:
JONATHAN JAHIR HERNÁNDEZ HERNÁNDEZ
GRUPO: MI08-A
MATERIA: ENSAYOS DESTRUCTIVOS
ACTIVIDAD # 1
3 er. PARCIAL
CARRERA: ING. EN MANTENIMIENTO INDUSTRIAL
Cd, Santa Catarina N.L. a febrero de 2012