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Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 1
Análisis de Redes de Microondas
Modelado de Componentes y
Circuitos de RF:
Parámetros Z, Y y S
Fernando Silveira
Instituto de Ingeniería Eléctrica
Universidad de la República
F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 2Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 2
Tratemos de usar
lo más posible lo conocido …
• Cuando las dimensiones de un circuito son
mucho menores respecto a la longitud de onda
• => los cambios de fase debido a la onda a lo largo
del circuito son despreciables
• => podemos tratarlo como interconexión de
elementos de parámetros concentrados (se tienen
tensiones y corrientes únicas definidas en cada punto
del circuito)
• => los campos electromagnéticos son del tipo TEM
llevados por dos conductores, las ecuaciones de
Maxwell se reducen las leyes de Kirchoof.
• Interesa extender lo más posible estas técnicas a
los circuitos de RF por facilidad de análisis,
herramientas (y familiaridad con la técnicas)
F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 3Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 3
Ej. Modelo de un BJT en alta frecuencia
• Que el fabricante de datos para
este modelo requiere:
• Que el modelo valga
• Que tome medidas como
para determinar todos los
componentes del modelo (los
valores de los componentes
del modelo no pueden
determinarse todos
independientemente)
Tomado de RF Circuit Design, C. Bowick, 2nd Ed, Figs. 5.2 y 5.3
•=> Modelado como Caja Negra
con parámetros determinables
experimentalmente
Tomado de RF Circuit Design, C. Bowick, 2nd Ed., Fig. 5.12
F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 4Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 4
Cajas, Redes y Puertos
Cada puerto tiene asociado un
plano de referencia (t1, t2, t3, t4, ..
tN) en el que:
• Se definen las ondas de V e I
incidente y reflejadas
• El plano define una referencia de
fase para los fasores de V e I
Puerto (“port”): sinónimo de
par de terminales, en el que
en el caso más básico se
tienen ondas
electromagnéticas TEM.
Tomado de Microwave Engineering, D. Pozar, 4ta Ed., Fig. 4.5
F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 5Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 5
Parámetros Z e Y
F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 6Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 6
Determinación de Parámetros Z e Y
• => Zii: impedancia vista en el puerto i cuando los otros puertos
están en circuito abierto
• => Zij: inyecto Ij en puerto j y mido tensión de vacío Vi en puerto
i, con los puertos diferentes al j en circuito abierto
• => Yii: admitancia vista en el puerto i cuando los otros puertos
están en cortocircuito
•=> Yij: aplico Vj en puerto j y mido corriente de cortocircuito en
puerto i, con los puertos diferentes al j en cortocircuito
F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 7Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 7
Parámetros Z e Y:
propiedades y limitaciones
• Si la red es “recíproca” = no contiene fuentes J y M
 no tienen elementos activos, ferritas o plasma
=> Z e Y son simétricas
• Si la red es recíproca y sin pérdidas => Z e Y
son simétricas e imaginarias
Limitaciones
• Condición de cortocircuito / circuito abierto
• Difícil en RF
• No es condición normal => puede generar oscilaciones
• Basado en conceptos de V e I difíciles de medir a
alta frecuencia.
• Ejs: hoja de datos MPSH10 y PN918
F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 8Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 8
Scattering Matrix (Parámetros de
Scattering, Parámetros S)
• definición en función de ondas ( incidente y reflejada )
en lugar de V e I
• medida con terminación característica del sistema de
medición no circuito abierto o corto
• Esta biunívocamente relacionada con las matrices Z e Y
• Se puede deducir de circuito de la red si se conoce o se
puede medir con Analizador Vectorial de Redes (VNA:
Vector Network Analyzer) o métodos similares (es
posible separar onda incidente de reflejada y medir cada
una)
F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 9Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 9
Parámetros S
aplico una
onda
incidente Vj+
en el puerto j
mido la
amplitud de la
onda reflejada
del puerto i, Vi-
ondas
incidentes en k
 j son 0 =>
puertos k  j
terminados en
cargas
“matcheadas”
para evitar
reflexiones.
F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 10Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 10
Parámetros S
• Sii: coeficiente de reflexión visto hacia el
puerto i cuando todos los otros puertos están
terminados en cargas “matcheadas”.
• Sij: coeficiente de transmisión del puerto j
hacia el puerto i cuando todos los otros
puertos están terminados en cargas
“matcheadas”.
F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 11Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 11
Parametros S: Caso generalizado:
Puertos con Z distintas
Tomado de Microwave Transistor Amplifiers, G. Gonzalez, 2nd Ed.
Es necesario normalizar a potencia (o raiz de
potencia):
F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 12Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 12
Parámetros S: visión más precisa (1)
F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 13Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 13
Parámetros S: visión más precisa (2)
ZOUT NO tiene porque estar matcheada a nada (ni
lo va a estar en general)
F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 14Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 14
Parámetros S:
Cambio de plano de Referencia
F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 15Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 15
Parámetros S: Propiedades a, b (1)
Líneas sin pérdidas (=> Potencias en x=0 y x=l son iguales, Z0: real)
a∝√Pot incidente
b∝√Pot reflejada
F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 16Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 16
Parámetros S: Propiedades a, b (2)
PAVS: Available Power (Potencia Disponible,
Máxima potencia que puede entregar la fuente,
cuando ZL = Zout*)
F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 17Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 17
Parámetros S: Propiedades a,b (3)
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P1(0)=P1
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(0)−P1
−
(0)=
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2
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2
−
1
2
|b1(0)|
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+
es distinto de PAVS
F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 18Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 18
Parámetros S: Propiedades S11
S112
:
• Relación entre potencia reflejada en el puerto 1 y potencia
incidente en el puerto
• Si Z1 = Zo1: relación entre potencia reflejada y potencia
disponible en la fuente en el puerto 1
S11=
V1
−
V1
+
=Γ
|S11|(dB)=20.log10|S11|=10.log10
Preflejada
Pincidente
F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 19Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 19
Recapitulando:
diferentes formas de expresar grado de reflexión o
(des)adaptación (1)
S11=
V1
−
V1
+
=Γ• Coeficiente de reflexión ()
• S11 = pero muchas veces expresado en
dB: S11(dB) =20*log10(
• Return Loss (Pérdida de retorno): inverso de
|S11|en general expresado en dB:
• Relación de onda estacionaria (Standing
Wave Ratio: SWR o VSWR (Voltage SWR)):
Relación entre máxima y mínima amplitud en
una línea
RL=−20. log10|S11|=+10.log10
Pincidente
Preflejada
SWR=
1+|Γ|
1−|Γ|
F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 20Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 20
Recapitulando:
diferentes formas de expresar grado de reflexión o
(des)adaptación (2)
|| = |S11
| RL (dB) =
-|S11
|(dB)=
-20.log10(||)
SWR= Preflejada /
Pincidente
(%)
= ||2
0  1.00 0,00%
0.025 32.0 1.05 0,06%
0.05 26.0 1.11 0,25%
0.075 22.5 1.16 0,56%
0.1 20.0 1.22 1,00%
0.15 16.5 1.35 2,25%
0.2 14.0 1.50 4,00%
0.25 12.0 1.67 6,25%
0.3 10.5 1.86 9,00%
0.35 9.1 2.07 12,25%
0.4 8.0 2.33 16,00%
0.45 6.9 2.64 20,25%
“Mínimo
aceptable”
S11 < -10dB
(=> Pr/Pi =10%)
SWR < 2
(=> Pr/Pi =11%)
“Deseable”
S11 < -15dB
(=> Pr/Pi =3.2%)
SWR < 1.5
(=> Pr/Pi =4%)
1+|Γ|
1−|Γ|
F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 21Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 21
Parámetros S: Propiedades S21 (1)
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Si Z01
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PL
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F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 23Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 23
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F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 24Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 24
Ondas de Potencia (Power Waves) y
Parametros S generalizados (1)
F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 25Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 25
• Si Zs es real y positiva => ap, bp, Sp son idénticos a a, b y S
• Sp no se pueden medir directamente, pero S si y Sp se pueden
deducir a partir de S
Ondas de Potencia (Power Waves) y
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Bloques en Cascada, Parametros T
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F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 27Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 27
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• Formato estándar para dar información de
parámetros S, Y, Z,... en función de la
frecuencia
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#  [ HZ / KHZ / MHZ / GHZ ]   [ S / Y / Z / G / H ]
  [ MA / DB / RI ]   [ Rn ]
freq.  S11, S21, S12, S22
# GHZ    S   RI   R   50.0
 1.0000  0.3926  -0.1211  -0.0003  -0.0021  -0.0003  -0.0021  0.3926  -0.1211
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F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 29Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 29
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Básicamente la idea es que la potencia
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F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 30Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 30
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F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 31Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 31
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Medida de Parámetros S
• Line stretcher de modo que distancia electrica de
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F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 33Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 33
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• R (potencia incidente), A, B: potencia reflejada y transmitida
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F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 34Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 34
Agilent 4395A
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F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 35Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 35
Analizador Vectorial de Redes:
Medida de parámetros S, 2 puertos
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F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 36Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 36
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F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 37Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 37
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F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 38Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 38
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con medida de Parámetros S de 2 puertos
F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 39Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 39
“De-embedding” (1)
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F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 40Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 40
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  • 1. Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 1 Análisis de Redes de Microondas Modelado de Componentes y Circuitos de RF: Parámetros Z, Y y S Fernando Silveira Instituto de Ingeniería Eléctrica Universidad de la República
  • 2. F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 2Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 2 Tratemos de usar lo más posible lo conocido … • Cuando las dimensiones de un circuito son mucho menores respecto a la longitud de onda • => los cambios de fase debido a la onda a lo largo del circuito son despreciables • => podemos tratarlo como interconexión de elementos de parámetros concentrados (se tienen tensiones y corrientes únicas definidas en cada punto del circuito) • => los campos electromagnéticos son del tipo TEM llevados por dos conductores, las ecuaciones de Maxwell se reducen las leyes de Kirchoof. • Interesa extender lo más posible estas técnicas a los circuitos de RF por facilidad de análisis, herramientas (y familiaridad con la técnicas)
  • 3. F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 3Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 3 Ej. Modelo de un BJT en alta frecuencia • Que el fabricante de datos para este modelo requiere: • Que el modelo valga • Que tome medidas como para determinar todos los componentes del modelo (los valores de los componentes del modelo no pueden determinarse todos independientemente) Tomado de RF Circuit Design, C. Bowick, 2nd Ed, Figs. 5.2 y 5.3 •=> Modelado como Caja Negra con parámetros determinables experimentalmente Tomado de RF Circuit Design, C. Bowick, 2nd Ed., Fig. 5.12
  • 4. F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 4Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 4 Cajas, Redes y Puertos Cada puerto tiene asociado un plano de referencia (t1, t2, t3, t4, .. tN) en el que: • Se definen las ondas de V e I incidente y reflejadas • El plano define una referencia de fase para los fasores de V e I Puerto (“port”): sinónimo de par de terminales, en el que en el caso más básico se tienen ondas electromagnéticas TEM. Tomado de Microwave Engineering, D. Pozar, 4ta Ed., Fig. 4.5
  • 5. F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 5Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 5 Parámetros Z e Y
  • 6. F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 6Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 6 Determinación de Parámetros Z e Y • => Zii: impedancia vista en el puerto i cuando los otros puertos están en circuito abierto • => Zij: inyecto Ij en puerto j y mido tensión de vacío Vi en puerto i, con los puertos diferentes al j en circuito abierto • => Yii: admitancia vista en el puerto i cuando los otros puertos están en cortocircuito •=> Yij: aplico Vj en puerto j y mido corriente de cortocircuito en puerto i, con los puertos diferentes al j en cortocircuito
  • 7. F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 7Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 7 Parámetros Z e Y: propiedades y limitaciones • Si la red es “recíproca” = no contiene fuentes J y M  no tienen elementos activos, ferritas o plasma => Z e Y son simétricas • Si la red es recíproca y sin pérdidas => Z e Y son simétricas e imaginarias Limitaciones • Condición de cortocircuito / circuito abierto • Difícil en RF • No es condición normal => puede generar oscilaciones • Basado en conceptos de V e I difíciles de medir a alta frecuencia. • Ejs: hoja de datos MPSH10 y PN918
  • 8. F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 8Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 8 Scattering Matrix (Parámetros de Scattering, Parámetros S) • definición en función de ondas ( incidente y reflejada ) en lugar de V e I • medida con terminación característica del sistema de medición no circuito abierto o corto • Esta biunívocamente relacionada con las matrices Z e Y • Se puede deducir de circuito de la red si se conoce o se puede medir con Analizador Vectorial de Redes (VNA: Vector Network Analyzer) o métodos similares (es posible separar onda incidente de reflejada y medir cada una)
  • 9. F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 9Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 9 Parámetros S aplico una onda incidente Vj+ en el puerto j mido la amplitud de la onda reflejada del puerto i, Vi- ondas incidentes en k  j son 0 => puertos k  j terminados en cargas “matcheadas” para evitar reflexiones.
  • 10. F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 10Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 10 Parámetros S • Sii: coeficiente de reflexión visto hacia el puerto i cuando todos los otros puertos están terminados en cargas “matcheadas”. • Sij: coeficiente de transmisión del puerto j hacia el puerto i cuando todos los otros puertos están terminados en cargas “matcheadas”.
  • 11. F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 11Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 11 Parametros S: Caso generalizado: Puertos con Z distintas Tomado de Microwave Transistor Amplifiers, G. Gonzalez, 2nd Ed. Es necesario normalizar a potencia (o raiz de potencia):
  • 12. F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 12Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 12 Parámetros S: visión más precisa (1)
  • 13. F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 13Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 13 Parámetros S: visión más precisa (2) ZOUT NO tiene porque estar matcheada a nada (ni lo va a estar en general)
  • 14. F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 14Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 14 Parámetros S: Cambio de plano de Referencia
  • 15. F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 15Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 15 Parámetros S: Propiedades a, b (1) Líneas sin pérdidas (=> Potencias en x=0 y x=l son iguales, Z0: real) a∝√Pot incidente b∝√Pot reflejada
  • 16. F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 16Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 16 Parámetros S: Propiedades a, b (2) PAVS: Available Power (Potencia Disponible, Máxima potencia que puede entregar la fuente, cuando ZL = Zout*)
  • 17. F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 17Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 17 Parámetros S: Propiedades a,b (3) P1(0): Potencia entregada en el puerto 1 en x=0 P1(0)=P1 + (0)−P1 − (0)= 1 2 |a1(0)| 2 − 1 2 |b1(0)| 2 Cuando Z1 = Zo1, sino P1 + es distinto de PAVS
  • 18. F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 18Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 18 Parámetros S: Propiedades S11 S112 : • Relación entre potencia reflejada en el puerto 1 y potencia incidente en el puerto • Si Z1 = Zo1: relación entre potencia reflejada y potencia disponible en la fuente en el puerto 1 S11= V1 − V1 + =Γ |S11|(dB)=20.log10|S11|=10.log10 Preflejada Pincidente
  • 19. F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 19Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 19 Recapitulando: diferentes formas de expresar grado de reflexión o (des)adaptación (1) S11= V1 − V1 + =Γ• Coeficiente de reflexión () • S11 = pero muchas veces expresado en dB: S11(dB) =20*log10( • Return Loss (Pérdida de retorno): inverso de |S11|en general expresado en dB: • Relación de onda estacionaria (Standing Wave Ratio: SWR o VSWR (Voltage SWR)): Relación entre máxima y mínima amplitud en una línea RL=−20. log10|S11|=+10.log10 Pincidente Preflejada SWR= 1+|Γ| 1−|Γ|
  • 20. F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 20Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 20 Recapitulando: diferentes formas de expresar grado de reflexión o (des)adaptación (2) || = |S11 | RL (dB) = -|S11 |(dB)= -20.log10(||) SWR= Preflejada / Pincidente (%) = ||2 0  1.00 0,00% 0.025 32.0 1.05 0,06% 0.05 26.0 1.11 0,25% 0.075 22.5 1.16 0,56% 0.1 20.0 1.22 1,00% 0.15 16.5 1.35 2,25% 0.2 14.0 1.50 4,00% 0.25 12.0 1.67 6,25% 0.3 10.5 1.86 9,00% 0.35 9.1 2.07 12,25% 0.4 8.0 2.33 16,00% 0.45 6.9 2.64 20,25% “Mínimo aceptable” S11 < -10dB (=> Pr/Pi =10%) SWR < 2 (=> Pr/Pi =11%) “Deseable” S11 < -15dB (=> Pr/Pi =3.2%) SWR < 1.5 (=> Pr/Pi =4%) 1+|Γ| 1−|Γ|
  • 21. F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 21Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 21 Parámetros S: Propiedades S21 (1)
  • 22. F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 22Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 22 Parámetros S: Propiedades S21 (2) Si Z01 = Z02 =Z0 Potencia entregada a la carga Zo2 (PL) Potencia disponible en la fuente E1,TH Transducer Gain: GT= PL PAVS =|S21|2 Si ZT1 = Z01 => Av (ganancia en voltaje del bloque)
  • 23. F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 23Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 23 Ejemplo
  • 24. F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 24Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 24 Ondas de Potencia (Power Waves) y Parametros S generalizados (1)
  • 25. F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 25Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 25 • Si Zs es real y positiva => ap, bp, Sp son idénticos a a, b y S • Sp no se pueden medir directamente, pero S si y Sp se pueden deducir a partir de S Ondas de Potencia (Power Waves) y Parametros S generalizados (2)
  • 26. F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 26Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 26 Bloques en Cascada, Parametros T (chain scattering, scattering transfer)
  • 27. F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 27Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 27 Archivos Touchstone (snp, s2p) • Formato estándar para dar información de parámetros S, Y, Z,... en función de la frecuencia • Encabezado: (ej s2p) #  [ HZ / KHZ / MHZ / GHZ ]   [ S / Y / Z / G / H ]   [ MA / DB / RI ]   [ Rn ] freq.  S11, S21, S12, S22 # GHZ    S   RI   R   50.0  1.0000  0.3926  -0.1211  -0.0003  -0.0021  -0.0003  -0.0021  0.3926  -0.1211  2.0000  0.3517  -0.3054  -0.0096  -0.0298  -0.0096  -0.0298  0.3517  -0.3054  10.000  0.3419   0.3336  -0.0134   0.0379  -0.0134   0.0379  0.3419   0.3336
  • 28. F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 28Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 28 Power Dividers
  • 29. F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 29Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 29 Directional Coupler (Acoplador Direccional) Básicamente la idea es que la potencia que entra por Input se divida entre Through y Coupled sin que nada vaya hacia Isolated Pero entonces, ¿ para que esta isolated ?
  • 30. F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 30Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 30 Directional Coupler con líneas acopladas
  • 31. F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 31Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 31 “Reflectómetro” en base a Directional Coupler Pi P incidente P reflejada Pr “isolated” “isolated”
  • 32. F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 32Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 32 Medida de Parámetros S • Line stretcher de modo que distancia electrica de onda incidente y reflejada sean iguales => tal que desafaje sea 180o con calibración con corto. • Through: para calibrar fase de medida de S21, basta la anterior si through section el doble de largo que short circuit section.
  • 33. F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 33Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 33 Analizador Vectorial de Redes: Medida de 1 puerto 1 Salida (RF output) y 3 canales de entrada: • R (potencia incidente), A, B: potencia reflejada y transmitida • Medidas: potencia en R, A, B, Modulo y fase de PA/PR, PB/PR •A/R = S11
  • 34. F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 34Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 34 Agilent 4395A Network / Spectrum / Impedance Analyzer 10Hz – 500MHz
  • 35. F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 35Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 35 Analizador Vectorial de Redes: Medida de parámetros S, 2 puertos A/R = S11 B/R = S21 Dando vuelta el DUT (“transistor jig”) se miden S22 y S12
  • 36. F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 36Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 36 Agilent 4395A con S Parameter Test Set
  • 37. F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 37Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 37 Rohde & Schwarz ZVB 8 Vector Network Analyzer 300 kHz – 8 GHz, 4 puertos
  • 38. F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 38Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 38 VNA Actual con medida de Parámetros S de 2 puertos
  • 39. F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 39Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 39 “De-embedding” (1) Si conozco modelo / datos de Fixture
  • 40. F. Silveira, Univ. de la República, Montevideo, Uruguay IEEE CASS DLP 40Circuitos de Radiofrecuencia, 2015, Parámetros S 40 “De-embedding” (2) Si NO conozco modelo / datos de Fixture: Método TRL: Thru – Reflect - Line Agilent