MICROSCOPIA DE FUERZA ATOMICA Y VIRTUAL

1. “AÑO DE LA LUCHA CONTRA LA CORRUPCIÓN Y LA IMPUNIDAD”
I.E :INSTITUTO DE SALUD ALBERTO BARTON THOPMSON “
ALUMNA: RODRIGUEZ ATALAYA YULI
CURSO: EQUIPOS E INSTRUMENTOS DE MICROSCOPIA
TEMA: MICROSCOPIA DE FUERZA ATOMICA Y VIRTUAL
DOCENTE: CARLOS ARMANDOESQUECHE ANGELES
ESPECIALIDAD: LABORATORIO CLÍNICO
CICLO: III
TURNO: TARDE
CAJAMARCA 2019

2. Microscopia de fuerza atómica y virtual
El microscopio de fuerza atómica es un equipo mecano óptico que genera imágenes de las
superficies de las muestras a través de una sonda o micropalanca. Esta recorre la totalidad
de la muestraexplorando línea por línea. Así va escaneando y genera la imagen de acuerdo
a la posición en donde se encuentra. La microscopía de fuerza atómica se basa en la
interacción entre una punta muy fina y la superficie de la muestra. Se trata de provocar un
desplazamiento relativo entre punta y muestra mediante un barrido fino basado en
materiales piezoeléctrico Manteniendo la interacción punta muestra constante, se obtienen
mapas tridimensionales de resolución manométrica en los tres ejes. El uso de puntas
especiales con propiedades eléctricas, térmicas o mecánicas permite asimismo la
caracterización de la muestra con respecto a estas interacciones. Un gran número de
aplicaciones derivadas de esta técnica se basan en la manipulación de la muestra con estas
puntas, como por ejemplo estiramiento de proteínas.
Cómo funciona el microscopio AFM
La punta del microscopio de fuerza atómica se encuentra en una micropalanca sobre la
cual se le refleja un láser. De esta forma, cada vez que la punta se mueva hacia arriba o
hacia abajo debido a la interacción con la superficie que se encuentra escaneando, esa
micropalanca reflecta la luz de láser con desviaciones que son detectadas por un
fotodetector e interpretadas por el software propio del microscopio.
Usos de este tipo de microscopio
Se utiliza mucho en la industria nanotecnológica porque permite visualizar muestras con
una dimensión de nanómetros.
 Mediciones de fuerza en escala nanoNewtons
 Mediciones de visco elasticidad
 Medición de dureza de materiales
Esta técnica es muy utilizada para analizar nano-materiales porque no requiere de una
preparación complicada de la muestra, tampoco requiere condiciones de vacío y tampoco
es preciso que la muestra sea conductora o esté recubierta. Estas ventajas que presenta
sobre el microscopio electrónico hacen que su rango de utilización sea muy amplio.
Con un microscopio AFM es posible hacer análisis de muestras sólidas, da igual que sea
polvo, lo importante es que sea lo más plana y homogénea posible.
En el microscopio de fuerza atómica lo que se produce es fuerza entre los átomos de la
superficie y de la punta.

3. Partes delmicroscopio de fuerza atómica
Sensores de flexión La mayoría de las micropalancas de este tipo de microscopio se
fabrican con una finísima capa de oro de apenas unos nanómetros de espesor para
optimizar la reflectancia de el haz de láser.
Punta Estees uno de los componentes más importantes del microscopiode fuerza atómica.
La agudeza de la punta determinará el poder de resolución del equipo. Las puntas de mayor
calidad tienen una curvatura de unos 5 nm.
Cómo se forma la imagen en los AFM
El microscopio AFM se basa en tres técnicas para obtener las imágenes
 Por contacto: la fuerza entre punta y muestra no varía. La punta siempre está en
contacto con la muestra. Con este método se hacen análisis de fricción, fuerza
magnética, datos topográficos, etc.
 No contacto: la punta se distancia muy levemente de la muestra. Así la
micropalanca oscila debido a la superficie de la muestra.
 Intermitente:la micropalanca oscila durante todo el análisis. Así obtiene imágenes
topográficas debido a la vibración o diferencias en la amplitud.

4. BIBLIOGRAFIA
Hhttps://comprarmicroscopio.blogspot.com/2018/04/microscopio-de-fuerza-atomica.html?m=1