1414 l práctica 3 microscopía electrónica (sem, tem, fib, afm)
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1.
2. • INSTITUTO DE INVESTIGACION DE MATERIALES
Ingresamos a una sala donde se nos proporciono la una
explicación hacer acerca de lo que dedican hacer en esa
área, empezando desde sus fundamentos, objetivos,
demostración
(en donde entran la parte experimental, conocimientos) y
por ultimo la aplicación.
También se nos proporciono la información pertinente para
realizar alguna estancia en la escuela, trabajar como
investigador para hacer nuestra tesis, realizar algún
doctorado, maestría dentro del instituto.
3.
4. Posteriormente empezamos el recorrido por centro de
investigaciones empezando por
• DIFRACCIÓN DE RAYOS X POR METODO DE
POLVOS
Como mismo se llama este es método el cual sirve para
determinar el tamaño del la muestras solidas siendo
prismas pequeños, material amorfo o no, mediante la
difracción de Rayos X.
5. • MICROSCOPIA DE FUERZA ATOMICA
El Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) es un instrumento
mecano-óptico capaz de detectar fuerzas del orden de los
nanonewton. La fuerza atómica se puede detectar cuando la
punta está muy próxima a la superficie de la muestra. Es
posible entonces registrar la pequeña flexión del listón
mediante un haz laser reflejado en su parte posterior. Un
sistema auxiliar piezoeléctrico desplaza la muestra
tridimensionalmente, mientras que la punta recorre
ordenadamente la superficie. Todos los movimientos son
controlados por una computadora.
La resolución del instrumento es de menos de 1 nm, y la
pantalla de visualización permite distinguir detalles en la
superficie de la muestra con una amplificación de varios
millones de veces.
6.
7. • RESONANCIA MAGNETICA NUCLEAR
La Resonancia Magnética Nuclear (RMN) es la herramienta
analítica que proporciona mayor información estructural y
estereoquímica en un tiempo asequible.
Es una espectroscopia de absorción cuyo fundamento es la
absorción de energía (radiofrecuencias) por un núcleo
magnéticamente activo, que está orientado en el seno de un
campo magnético, y que por efecto de esa energía cambia su
orientación. Las partes fundamentales de un espectrómetro de
RMN son un imán, actualmente una bobina superconductora,
que suministra el campo magnético principal, un oscilador de
radiofrecuencias que suministra la energía necesaria para
cambiar la orientación de los núcleos, una bobina detectora
que recibe las señales y un sistema informatizado que
gobierna todo el aparato y que incluye un sistema de
amplificación y registro.
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9. • ANALISIS DE SUPERFICIES EN ULTRA ALTO VACIO
El sistema permite el crecimiento de películas delgadas por
Epitaxia de haces moleculares (MBE) y su análisis mediante
las técnicas estándar de espectroscopia que utilizan los iones
de alta energía proporcionados por el acelerador del CMAM
[Retrodifusión Rutherford (RBS), detección de iones
retrodispersados elásticamente ( ERDA), etc], así como la
caracterización de las muestras con técnicas de superficie de
alta sensibilidad [tales como la dispersión de iones de baja
energía (LEIS), difracción de electrones de baja energía
(LEED) y espec
troscopía de electrones Auger (AES)].