1. MAQUINA UNIVERSAL DE MEDICIÓN

2. 
Basada en un sistema óptico con
amplificaciones de las lentes, permite
tomar lecturas a través de tres
microscopios micrométricos. Se auxilia de
un comparador electrónico para su ajuste.
Es un equipo de alta exactitud y con una
gran
gama
de
aplicaciones.

3. 
La lectura en milímetros se toma de una
regla graduada, y la lectura de
aproximación se toma de un microscopio
al amplificar esta lectura, ayudado por un
comparador electrónico, que sirve para
alinear o ajustar la pieza por un lado y por
el otro para que siempre actúe la misma
presión del palpador sobre la pieza a
medir.
El
palpador
empleado
es
multidireccional y sufre una fuerza de
palpación entre 100 y 400 g.

5. PROYECTOR DE PERFILES OPACOS

6. EL “PPO” O “COMPARADOR ÓPTICO”
* Permite la medición de componentes sofisticados
(engranes, levas y otros artículos de difícil acceso a
los instrumentos de medición convencionales).
* Es un instrumento de alta exactitud y versatilidad.
* La imagen aumentada de la pieza se proyecta en
una pantalla, donde puede ser medida por medio de
escalas o comparada con plantillas de referencia.

7. * La ventaja del empleo del método por
comparación es su facilidad para poder
observar a través de la plantilla mostrada
en la pantalla cualquier desviación
existente de la pieza amplificada y
proyectada.
* Se trabaja sin contacto directo con la
pieza a medir, por lo que el desgaste por
fricción con la misma es nulo.
* Involucra elementos que constituyen un
sistema
óptico
y
otro
mecánico.

8. MÉTODO DIASCÓPICO

Es cuando la iluminación se aplica por la
parte inferior de la pieza, mostrando
entonces únicamente el perfil de la misma y
se le observa como una sombra. Es posible
bajo este método medir exactamente las
dimensiones delimitadas por el contorno de
la pieza.

9. MÉTODO EPISCÓPICO

Se emplea para observar la superficie de las
piezas opacas. En este caso la iluminación
es aplicada por sobre la pieza a medir
quedando en esta forma visibles los detalles
que pueda tener la misma en su superficie.

11. MÉTODO EPI- DIASCÓPICO

Cuando incide sobre la pieza de iluminación,
tanto inferior como superior, en forma
simultanea. Bajo esta situación es posible
realizar la inspección del contorno y
superficie de la pieza simultáneamente.