CAPACITANCIA
DE DIFUSION
Por: Estefania Barrios Ruiz
En el semiconductor p-n existen dos efectos de
capacitancia que deben considerarse. Ambos tipos de
capacitancia se encuentran en las regiones de
polarización directa y polarización inversa, pero
una sobrepasa la otra de tal manera que en cada
región solo se consideran los efectos de una sola
capacitancia.
Capacitancia de transición o de agotamiento.
Capacitancia de difusión o de almacenamiento.
En la región de polarización directa se tiene la
capacitancia de difusión o de almacenamiento (CD)
El efecto también se encuentra en la región de
polarización directa, pero este es mucho menor que
un efecto de capacitancia directamente dependiente
de la velocidad a la que la carga es inyectada hacia
las regiones justo fuera de la región de agotamiento.
El resultado es que niveles crecientes de corriente
resultaran niveles crecientes de la capacitancia de
difusión.
POLARIZACIÓN DIRECTA
Si el terminal positivo de la
fuente está conectado al material
tipo p y el terminal negativo de la
fuente está conectado al material
tipo n, diremos que estamos en
"Polarización Directa".
Si se polariza la unión PN en sentido directo, la tensión U
de la pila contrarresta la barrera de potencial creada
por la distribución espacial de cargas en la unión,
desbloqueándola, y apareciendo una circulación de
electrones de la región N a la región P y una circulación
de huecos en sentido contrarío.
Distribución de portadores minoritarios en una union pn polarizada
directamente. Se supone que la region p esta mas fuertemente
contamina que la n; Na >> Nd
Tenemos así una corriente eléctrica de valor elevado, puesto
que la unión PN se hace conductora, presentando una
resistencia eléctrica muy pequeña.
El flujo de electrones se mantiene gracias a la pila que los
traslada por el circuito exterior circulando con el sentido
eléctrico real, que es contrario al convencional establecido
para la corriente eléctrica.
El exceso de carga de huecos almacenado en la region n
se puede hallar del área sombreada bajo el
exponencial de esta manera:
sustituyendo por Pn(Xn) y usando esta otra ecuación es posible
expresar Qp como:
El factor que relaciona con ,
es un útil parámetro que tiene la dimensión
tiempo (s) y es denota
La constante de tiempo τp se conoce como el
exceso de portador de la minoría (agujero) de
por vida. Es el tiempo promedio que tarda un
orificio inyectado en la región n para re
combinarse con una mayoría de electrones.
Esta definición de τp implica que toda la carga
Qp desaparece y tiene que ser repuesta cada
τp segundos. La corriente que realiza la
reposición es Ip = Qp / τp
Esta relación dice que el exceso de carga de huecos
almacenas dos es proporcional a la componente de
corriente de huecos y a la duración de huecos.
Se puede desarrollar una relación semejante para la
carga almacenada en la región p
Donde τn es la vida del electrón en la región p. El
exceso total de cargo de minoría se puede obtener
sumando Qp y Qn
Esta carga puede expresarse en términos de la
corriente de diodo I = Ip + In como
Donde τT se denomina tiempo de tránsito medio de la
unión. Obviamente, τT está relacionado con τp y τn.
Además, para la mayoría de los dispositivos prácticos,
un lado de la unión está mucho más dopado que el
otro. Por ejemplo, si NA ND , se puede mostrar que
por tanto, TT τp
Para pequeños cambios alrededor de un punto de
polarización, podemos definir una difusión incremental
Capacitancia cd como
Donde I es la corriente de polarización directa. Notesé que
Cd es directamente proporcional a la corriente I y, por lo
tanto, es tan pequeña que es despreciable cuando el
diodo se polariza inversamente. Para mantener una Cd
pequeña, el tiempo de transito Tt debe hacerse pequeño,
un requisito importante para un pn, destinada a una alta
frecuencia.
Y puede mostrar que
EJERCICIO
Para la unión pn, para la cual Dp = 10 cm^2 / V⋅s y Lp = 5 µm,
encuentre τp y Cd con una corriente de polarización directa de
0,1 mA. Recuerde que para este cruce, Ip = I.
Resp. 25 ns; 96,5 pF
Capacitancia de difusion

Capacitancia de difusion

  • 1.
  • 2.
    En el semiconductorp-n existen dos efectos de capacitancia que deben considerarse. Ambos tipos de capacitancia se encuentran en las regiones de polarización directa y polarización inversa, pero una sobrepasa la otra de tal manera que en cada región solo se consideran los efectos de una sola capacitancia. Capacitancia de transición o de agotamiento. Capacitancia de difusión o de almacenamiento.
  • 3.
    En la regiónde polarización directa se tiene la capacitancia de difusión o de almacenamiento (CD) El efecto también se encuentra en la región de polarización directa, pero este es mucho menor que un efecto de capacitancia directamente dependiente de la velocidad a la que la carga es inyectada hacia las regiones justo fuera de la región de agotamiento. El resultado es que niveles crecientes de corriente resultaran niveles crecientes de la capacitancia de difusión.
  • 4.
    POLARIZACIÓN DIRECTA Si elterminal positivo de la fuente está conectado al material tipo p y el terminal negativo de la fuente está conectado al material tipo n, diremos que estamos en "Polarización Directa". Si se polariza la unión PN en sentido directo, la tensión U de la pila contrarresta la barrera de potencial creada por la distribución espacial de cargas en la unión, desbloqueándola, y apareciendo una circulación de electrones de la región N a la región P y una circulación de huecos en sentido contrarío.
  • 5.
    Distribución de portadoresminoritarios en una union pn polarizada directamente. Se supone que la region p esta mas fuertemente contamina que la n; Na >> Nd
  • 6.
    Tenemos así unacorriente eléctrica de valor elevado, puesto que la unión PN se hace conductora, presentando una resistencia eléctrica muy pequeña. El flujo de electrones se mantiene gracias a la pila que los traslada por el circuito exterior circulando con el sentido eléctrico real, que es contrario al convencional establecido para la corriente eléctrica.
  • 7.
    El exceso decarga de huecos almacenado en la region n se puede hallar del área sombreada bajo el exponencial de esta manera: sustituyendo por Pn(Xn) y usando esta otra ecuación es posible expresar Qp como:
  • 8.
    El factor querelaciona con , es un útil parámetro que tiene la dimensión tiempo (s) y es denota
  • 9.
    La constante detiempo τp se conoce como el exceso de portador de la minoría (agujero) de por vida. Es el tiempo promedio que tarda un orificio inyectado en la región n para re combinarse con una mayoría de electrones. Esta definición de τp implica que toda la carga Qp desaparece y tiene que ser repuesta cada τp segundos. La corriente que realiza la reposición es Ip = Qp / τp
  • 10.
    Esta relación diceque el exceso de carga de huecos almacenas dos es proporcional a la componente de corriente de huecos y a la duración de huecos. Se puede desarrollar una relación semejante para la carga almacenada en la región p
  • 11.
    Donde τn esla vida del electrón en la región p. El exceso total de cargo de minoría se puede obtener sumando Qp y Qn Esta carga puede expresarse en términos de la corriente de diodo I = Ip + In como
  • 12.
    Donde τT sedenomina tiempo de tránsito medio de la unión. Obviamente, τT está relacionado con τp y τn. Además, para la mayoría de los dispositivos prácticos, un lado de la unión está mucho más dopado que el otro. Por ejemplo, si NA ND , se puede mostrar que por tanto, TT τp Para pequeños cambios alrededor de un punto de polarización, podemos definir una difusión incremental Capacitancia cd como
  • 13.
    Donde I esla corriente de polarización directa. Notesé que Cd es directamente proporcional a la corriente I y, por lo tanto, es tan pequeña que es despreciable cuando el diodo se polariza inversamente. Para mantener una Cd pequeña, el tiempo de transito Tt debe hacerse pequeño, un requisito importante para un pn, destinada a una alta frecuencia. Y puede mostrar que
  • 14.
    EJERCICIO Para la uniónpn, para la cual Dp = 10 cm^2 / V⋅s y Lp = 5 µm, encuentre τp y Cd con una corriente de polarización directa de 0,1 mA. Recuerde que para este cruce, Ip = I. Resp. 25 ns; 96,5 pF