1. UNIVERSIDAD NACIONAL DE TRUJILLO
ESCUELA DE INGENIERÍA DE
MATERILAES
TEMA: MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA
CURSO: Caracterización de Materiales
DOCENTE:
Ing. Dionicio Otiniano Méndez
dionicioo@hotmail.com
03– 06 - 2013
3. Diferencias entre M.O y M.E
MICROSCOPIO
DE LUZ
MICROSCOPIO
ELECTRÓNICO
Iluminación
Haz de luz
Haz de electrones
Lentes
Vidrio
Electroimanes
Resolución
200nm
3Å
Magnificación
40x - 2000 x
2000 x – 450 000 x
Material
Se puede observar
células vivas
Solo para observar
células muertas o
material inerte
4. Analogías y diferencias entre
microscopio óptico y electrónico
OPTICO
ELECTRÓNICO
Fotones
Electrones
220 voltios
20 000 voltios
Imagen por absorción de luz
Imagen por dispersión y pérdida de e-
Lentes distancia focal fija: x4, x10, Lentes con distancia focal variable
x20, x40, x60, x100
Visión directa por ojo humano
Visión por impresión en pantalla
Posibilidad de color
Blanco y negro
Imagen mejor que foto
Foto mejor que imagen
Aprox 1 000 aumentos
Hasta 450 000 aumentos
5. FUNDAMENTOS DE LA TÉCNICA
• Interacción del haz de
electrones con la
materia
• e1 electrones
retrodispersados
• e2 electrones
secundarios
• Emisión de RX
6.
7. ELECTRONES SECUNDARIOS
• Se emplea normalmente para obtener una
imagen de la muestra
• Emerge de la superficie de la muestra con una
energía inferior a 50 eV
• Solo los que están muy próximos a la
superficie tienen alguna probabilidad de
escapar. Dan una imagen tridimensional
• Rango de 10 a 200 000 aumentos
8. ELECTRONES RETRODISPERSADOS
• Energía mayor de 50eV
• Imagen de zonas con distinto Z
• A mayor numero atómico mayor intensidad
Este hecho permite distinguir fases de un
material de diferente composición química.
9. ELECTRONES RETRODISPERSADOS
•
•
•
•
•
Más energéticos que electrones secundarios
Emergen de zonas más profundas
Aportan información del Z medio
Información sobre composición muestra
Zonas con menor Z se verán mas oscuras que
las zonas que tienen mayor número atómico.
28. COMPARACIÓN
DE LOS
MICROSCOPIOS
ELECTRÓNICOS
El microscopio electrónico de
transmisión
(MET)
utiliza
haces de electrones que
atraviesan la muestra e
imanes que desvían los
haces generando la imagen
El microscopio electrónico de
barrido (SEM) utiliza haces de
electrones concentrados por
imanes que se reflejan en la
muestra,
generando
posteriormente la imagen.
31. 1.4. Aplicaciones.
Microscopio electrónico de barrido:
- Geología: Investigaciones geomineras, cristalográficas, mineralógicas y
petrológicas. Estudio morfológico y estructural de las muestras.
- Estudio de materiales: Caracterización microestructural de materiales. Análisis
cristalino. Valoración del deterioro. Tipo de degradación.
- Metalurgia: Control de calidad y estudio de fatiga de materiales.
- Odontología: estructura del esmalte y deterioro.
- Paleontología y Arqueología: Caracterización de aspectos morfológicos.
- Control de Calidad: Fibras, curtidos, etc.
- Peritajes: Estudios de muestras de cualquiera de las áreas antes mencionadas.
- Medicina Forense: Análisis morfológico de pruebas.
- Biología (botánica), Biomedicina y Medicina: Estudio morfológico.
- Estudio químico y estructural de obras de arte, alteración de monumentos,
calidad, identificación de pigmentos (restauración, autentificación)