Este documento describe diferentes técnicas para medir las características de superficies. La metrología superficial mide parámetros como la rugosidad y ondulación de superficie. Entre los instrumentos descritos se encuentran el rugosímetro de patín mecánico, el rugosímetro de palpador capacitivo, el perfilómetro, la microscopía de fuerza atómica y la interferometría. Cada técnica mide las características de la superficie de diferentes maneras.