Este documento describe diferentes técnicas para medir las características de las superficies a pequeña escala. La metrología superficial mide parámetros como la ondulación y la rugosidad de una superficie utilizando instrumentos como el perfilómetro, la microscopía de fuerza atómica y la interferometría. El perfilómetro mide la rugosidad de una superficie al moverse sobre ella. La microscopía de fuerza atómica permite ver y manipular la materia a escala nanométrica. La interferometría se

1. 11-2
• Ivan guerrero
• Felipe daza
• Edwin reyes

2. “SUPERFICIES”
Toda la materia existente en el
universo, tiene una superficie interior
y exterior, ya siendo
• Solido
• Liquido
• Gaseoso.

3. SUPERFICIE METROLOGÍA
• Metrología superficial es la medición de características de
pequeña escala en las superficies, y es una rama de la
metrología . Superficie forma primaria , la superficie de la
ondulación y la superficie de rugosidad son los parámetros más
comúnmente asociados con el campo. Es importante para
muchas disciplinas y es conocido sobre todo para el
mecanizado de piezas de precisión y montajes que contienen
superficies de contacto o que deben operar con altas presiones
internas.

4. • Metrología superficie es el estudio de la geometría de la
superficie, también llamada textura superficial o rugosidad de la
superficie. El enfoque es medir y analizar la textura de la
superficie con el fin de ser capaz de comprender cómo la
textura está influenciado por su historia, (por ejemplo,
fabricación, desgaste, fractura) y cómo influye en su
comportamiento (por ejemplo, adhesión, fricción brillo,) .

5. INSTRUMENTOS PARA MEDIR LA SUPERFICIE
• Perfilómetro
• Microscopía de fuerza atómica
• Interferometría

6. PERFILÓMETRO
Perfilómetro es un instrumento de medición utilizado para medir una superficie de perfil,
con el fin de cuantificar su rugosidad .
Mientras que la noción histórica de un Perfilómetro era un dispositivo similar a un fonógrafo
que mide una superficie como la superficie se mueve con respecto a el Perfilómetro de
contacto lápiz , esta noción está cambiando con la aparición de numerosas técnicas
profilometricas sin contacto.

8. MICROSCOPÍA DE FUERZA ATÓMICA
• El AFM es una de las herramientas más importantes
para la formación de imágenes, medir y manipular la
materia a escala nanométrica . La información es
recopilada por "sentir" la superficie con una sonda
mecánica. piezoeléctricos elementos que facilitan los
movimientos pequeños pero exactos y precisos sobre
(electrónico) de comandos habilitar el análisis muy
preciso

10. INTERFEROMETRÍA
• Los interferómetros son ampliamente utilizados en la ciencia y la industria para la
medición de pequeños desplazamientos, los cambios de índice de refracción e
irregularidades superficiales. En la ciencia analítica, los interferómetros se utilizan en
onda continua de espectroscopia para analizar la luz que contienen características de
absorción o de emisión asociado con una sustancia o mezcla. Un interferómetro
astronómico consta de dos o más telescopios separados que se combinan sus señales,
ofreciendo una resolución equivalente a la de un telescopio de diámetro igual a la mayor
separación entre sus elementos individuales.