Este documento presenta tres métodos para probar transistores: 1) usar un trazador de curvas para medir el nivel hFE y las configuraciones de terminales, 2) usar un óhmetro para medir las uniones base-emisor y base-colector, y 3) usar un óhmetro para medir la unión emisor-colector. El objetivo es verificar que los transistores funcionen correctamente y detectar cualquier daño.

1. Universidad Politécnica de Chiapas
Ing. Biomédica
Fundamentos de Electrónica
Ing. Othoniel Hernández Ovando
PRUEBA DE TRANSISTORES
Suchiapa, Chiapas a 28 de Febrero de 2012
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2. Prueba de Transistores
Función de
verificación
de Transistores
Prueba con Trazador de
óhmetro curvas
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3. Función de Verificación de
Transistores
Proporcionan el nivel
de hFE en el momento
que la conexión es
correcta.
Así mismo proporciona la
configuración de las terminales
sin necesidad de una hoja de
datos.
Si no muestra ningún valor,
el transistor está dañado.
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4. Función de Verificación de
Transistores

5. Prueba con Óhmetro
La unión base-emisor (polarización directa) debe mostrar
una resistencia baja (100Ω – 5kΩ).
Para el transistor PNP, se invierten las terminales del multímetro.
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6. Prueba con Óhmetro
La unión base-colector (polarización inversa) debe mostrar
una resistencia alta (arriba de 100kΩ).
Para el transistor PNP, se invierten las terminales del multímetro.
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7. Prueba con Óhmetro
Se hace una última medida, situando el multímetro entre los terminales de
emisor y colector en las dos posibles combinaciones que puede existir; la
indicación del instrumento será muy similar a la que se obtuvo en el caso
de aplicar polarización inversa (alta resistencia),
Esta comprobación no debe olvidarse, ya que se puede detectar un cortocircuito entre
emisor y colector y en muchas ocasiones no se descubre con las medidas anteriores.
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