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NOMENCLATURA DE ÍNDICES
DE MILLER, para planos y
direcciones cristalográficos.
Entendemos por planos y direcciones
cristalográficos a planos y direcciones
que contienen átomos de un cristal
dado. Consideramos que un átomo
pertenece a un plano (dirección) cuando
el centro de ese átomo está en dicho
plano (dirección).
Supongamos que interesa medir la
susceptibilidad magnética o el módulo
de Young de un monocristal de Cu. Se
obtienen diferentes valores de la
propiedad según la dirección cristalina
en que se haga la medición, por
ejemplo, según una arista o una
diagonal de la celda. Se dice que un
material es anisótropo cuando sus
propiedades dependen de la dirección
según la cual se hace la medida;
claramente los monocristales son
anisótropos, en tanto que los materiales
amorfos son isótropos. En efecto, en los
cristales, al variar la dirección
cristalográfica, cambia la distancia entre
los átomos alineados, lo cual es un
indicador de que hay diferencias en
cómo se ha satisfecho el enlace; por
tanto, habrá diferencia en el
comportamiento de las distintas
direcciones. Por otra parte, podríamos
estar interesados en la deformación
plástica por deslizamiento, como en el
caso de un monocristal de Zn
traccionado. En tal situación, el
deslizamiento se hace según un plano
cristalográfico específico y una
dirección cristalográfica específica.
De lo expuesto en el párrafo anterior,
resulta evidente que necesitamos un
procedimiento para designar planos y
direcciones cristalográficos. Además,
para analizar los diagramas de
difracción, con el propósito de
determinar las estructuras cristalinas,
también se necesita denominar
apropiadamente a planos y direcciones.
Así es como a continuación se presenta
el procedimiento para determinar los
índices de Miller; en tres dimensiones,
se trata simplemente de tríos ordenados
de números. El procedimiento de Miller
es aplicable a todo tipo de celdas, si
bien nuestras simples aplicaciones
corresponderán preferentemente a
cristales cúbicos. Para cristales
hexagonales en ocasiones se prefiere
otra nomenclatura denominada de
índices de Miller-Bravais, a la cual
corresponden, en tres dimensiones,
cuartetos ordenados; no veremos ese
procedimiento.
Como los cristales son regulares, todos
los planos paralelos entre sí son
idénticos y equidistantes; por ejemplo,
todos los planos hexagonales de un
cristal HC. Por ello, en el contexto de
los índices de Miller todos los planos
(direcciones) pararlelos(las) reciben
una misma denominación. Así
frecuentemente, en lugar de precisar
cada vez “un conjunto de planos
paralelos” diremos “un plano”.
Los índices de Miller de un plano
contienen como información la
distancia interplanar del conjunto de
planos paralelos correspondiente. Para
lograr esto, se aplica un procedimiento
que no es evidente a primera vista.
Aplicar integral y correctamente este
procedimiento es fundamental para el
análisis de difractogramas. En el caso
de los índices de direcciones, el
procedimiento es bastante sencillo, pues
se trata básicamente de una notación
vectorial. Como es evidente, los
resultados de la aplicación del
procedimiento son fuertemente
dependientes del tipo de red analizado;
así, por ejemplo, la notación para una
arista de celda es diferente en una red C
que en una CC.
Cabe señalar que, dado un cristal,
podemos determinar la celda
convencional y entonces conocer los
ejes de referencia convencionales, con
los cuales aquí siempre trabajaremos.
En ese sistema de ejes, las distancias se
miden en números que son múltiplos de
los respectivos parámetros de celda. Así
por ejemplo, en un cristal CCC la
distancia correspondiente a dos aristas
según el eje Z vale 2.
Determinación de índices de Miller de
planos.
Sea un cristal dado y un conjunto dado
de planos cristalográficos de ese cristal.
Para determinar los índices de Miller
de esos planos se procede así.
1) Considere un plano de ese
conjunto y dese el origen del sistema de
referencia. El origen estará centrado en
algún átomo.
2) Determine un plano crista-
lográfico paralelo al anterior que sea el
más próximo al origen pero sin pasar
por este último. Este plano podría ser el
mismo plano original.
(Note que en el origen hay un átomo;
por tanto, por ahí pasa una plano
cristalográfico del conjunto de interés.
En consecuencia, la distancia entre el
origen y el plano determinado en 2) es
la distancia interplanar)
3) Calcule ordenadamente las
intersecciones del plano determinado en
2) con cada uno de los ejes de
referencia.
4) Calcule los inversos de los
números anteriores y póngalos entre
paréntesis redondos. Tales son los
índices de Miller de los planos de
interés, genéricamente denominados
(hkl).
Atendiendo a la simetría de cada cristal,
es posible encontrar planos no paralelos
que son cristalográficamente
equivalentes. Tal es el caso de los
planos correspondientes a las tres caras
esencialmente diferentes no paralelas de
un cristal C. En ese caso se hace
referencia a la familia de planos {100},
que incluye a los plano (100), (010) y
(001), una familia de multiplicidad 3
(contiene 3 elementos).
Direcciones cristalinas.
Para las direcciones cristalinas se
emplea un sistema de índices que en lo
fundamental es simplemente vectorial.
Se usan paréntesis cuadrados: [hkl]. Por
ejemplo, las direcciones según aristas X
de un cristal C se llaman [100], igual
para los CC y CCC.
En un cristal, una familia de planos
equivalentes se denomina por paréntesis
de llave. Por ejemplo, las tres aristas no
paralelas de un cubo constituyen la
familia <100>, cuyos tres elementos son
las direcciones [100], [010] y [001].
Propiedades de índices de Miller en
cristales del sistema cúbico.
1. Dado un plano (hkl), los índices
de su normal son [hkl]. Esta propiedad
no siempre se cumple para cristales no
cúbicos.
2. Para un plano cristalográfico
{hkl}de un cristal de parámetro de celda
a[nm], la respectiva distancia
interplanar dhkl vale:
dhkl[nm]= a[nm] / (h2
+ k2
+ l2
)1/2
Comentarios:
La Propiedad 1 no siempre se cumple
en cristales no cúbicos, por ejemplo, en
cristales HC. Considere un cristal HC,
determine los índices de Miller: a) de
un plano basal y de su normal (se
cumple) y b) de un plano de prisma y de
su normal (no se cumple).
Para que se cumpla siempre la
Propiedad 1 en cristales HC, se ha
desarrollado un sistema de índices de
Miller-Bravais, empleando 4 índices.
Esto significa utilizar un sistema de
referencia de 4 ejes en un espacio 3D;
por ello, los tres primeros ejes,
contenidos en el plano basal, no son
linealmente independientes. El cuarto
eje corresponde al eje c, perpendicular
al plano basal. En el texto de Smith está
la materia de estos índices, pero no es
parte de este curso su empleo.
Según la Propiedad 2, si el trío {h k l}
es grande, entonces dhkl[nm] es
pequeño. Que {h k l} sea grande
corresponde a que (h2
+ k2
+ l2
) sea
grande. La ecuación anterior que refleja
esta Propiedad 2 no se cumple en
cristales no cúbicos; pero, en cristales
no cúbicos siempre existe una ecuación,
aunque más compleja que la de los
cúbicos, cuyo análisis también lleva a
concluir: los planos de índices menores
son los que presentan las mayores
distancias interplanares.
Nótese que si en la ecuación de la
Propiedad 2 no se ingresan los valores
de {h k l} correctamente calculados,
entonces el resultado de la distancia
interplanar será erróneo; esto es muy
grave al estar resolviendo problemas de
difracción. Por ejemplo, para un cristal
CCC no es raro que en vez de los
índices correctos {200} se asignen los
índices incorrectos, para el propósito de
calcular la distancia interplanar, {100}.
Sin embargo, en ambos casos se obtiene
la correcta dirección de la normal. En
efecto, las direcciones [200] y [100] son
paralelas.

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00 nomenclatura de_ndices_de_miller

  • 1. NOMENCLATURA DE ÍNDICES DE MILLER, para planos y direcciones cristalográficos. Entendemos por planos y direcciones cristalográficos a planos y direcciones que contienen átomos de un cristal dado. Consideramos que un átomo pertenece a un plano (dirección) cuando el centro de ese átomo está en dicho plano (dirección). Supongamos que interesa medir la susceptibilidad magnética o el módulo de Young de un monocristal de Cu. Se obtienen diferentes valores de la propiedad según la dirección cristalina en que se haga la medición, por ejemplo, según una arista o una diagonal de la celda. Se dice que un material es anisótropo cuando sus propiedades dependen de la dirección según la cual se hace la medida; claramente los monocristales son anisótropos, en tanto que los materiales amorfos son isótropos. En efecto, en los cristales, al variar la dirección cristalográfica, cambia la distancia entre los átomos alineados, lo cual es un indicador de que hay diferencias en cómo se ha satisfecho el enlace; por tanto, habrá diferencia en el comportamiento de las distintas direcciones. Por otra parte, podríamos estar interesados en la deformación plástica por deslizamiento, como en el caso de un monocristal de Zn traccionado. En tal situación, el deslizamiento se hace según un plano cristalográfico específico y una dirección cristalográfica específica. De lo expuesto en el párrafo anterior, resulta evidente que necesitamos un procedimiento para designar planos y direcciones cristalográficos. Además, para analizar los diagramas de difracción, con el propósito de determinar las estructuras cristalinas, también se necesita denominar apropiadamente a planos y direcciones. Así es como a continuación se presenta el procedimiento para determinar los índices de Miller; en tres dimensiones, se trata simplemente de tríos ordenados de números. El procedimiento de Miller es aplicable a todo tipo de celdas, si bien nuestras simples aplicaciones corresponderán preferentemente a cristales cúbicos. Para cristales hexagonales en ocasiones se prefiere otra nomenclatura denominada de índices de Miller-Bravais, a la cual corresponden, en tres dimensiones, cuartetos ordenados; no veremos ese procedimiento. Como los cristales son regulares, todos los planos paralelos entre sí son idénticos y equidistantes; por ejemplo, todos los planos hexagonales de un cristal HC. Por ello, en el contexto de los índices de Miller todos los planos (direcciones) pararlelos(las) reciben una misma denominación. Así frecuentemente, en lugar de precisar cada vez “un conjunto de planos paralelos” diremos “un plano”. Los índices de Miller de un plano contienen como información la distancia interplanar del conjunto de planos paralelos correspondiente. Para lograr esto, se aplica un procedimiento que no es evidente a primera vista. Aplicar integral y correctamente este procedimiento es fundamental para el análisis de difractogramas. En el caso de los índices de direcciones, el procedimiento es bastante sencillo, pues se trata básicamente de una notación vectorial. Como es evidente, los resultados de la aplicación del procedimiento son fuertemente dependientes del tipo de red analizado; así, por ejemplo, la notación para una arista de celda es diferente en una red C que en una CC.
  • 2. Cabe señalar que, dado un cristal, podemos determinar la celda convencional y entonces conocer los ejes de referencia convencionales, con los cuales aquí siempre trabajaremos. En ese sistema de ejes, las distancias se miden en números que son múltiplos de los respectivos parámetros de celda. Así por ejemplo, en un cristal CCC la distancia correspondiente a dos aristas según el eje Z vale 2. Determinación de índices de Miller de planos. Sea un cristal dado y un conjunto dado de planos cristalográficos de ese cristal. Para determinar los índices de Miller de esos planos se procede así. 1) Considere un plano de ese conjunto y dese el origen del sistema de referencia. El origen estará centrado en algún átomo. 2) Determine un plano crista- lográfico paralelo al anterior que sea el más próximo al origen pero sin pasar por este último. Este plano podría ser el mismo plano original. (Note que en el origen hay un átomo; por tanto, por ahí pasa una plano cristalográfico del conjunto de interés. En consecuencia, la distancia entre el origen y el plano determinado en 2) es la distancia interplanar) 3) Calcule ordenadamente las intersecciones del plano determinado en 2) con cada uno de los ejes de referencia. 4) Calcule los inversos de los números anteriores y póngalos entre paréntesis redondos. Tales son los índices de Miller de los planos de interés, genéricamente denominados (hkl). Atendiendo a la simetría de cada cristal, es posible encontrar planos no paralelos que son cristalográficamente equivalentes. Tal es el caso de los planos correspondientes a las tres caras esencialmente diferentes no paralelas de un cristal C. En ese caso se hace referencia a la familia de planos {100}, que incluye a los plano (100), (010) y (001), una familia de multiplicidad 3 (contiene 3 elementos). Direcciones cristalinas. Para las direcciones cristalinas se emplea un sistema de índices que en lo fundamental es simplemente vectorial. Se usan paréntesis cuadrados: [hkl]. Por ejemplo, las direcciones según aristas X de un cristal C se llaman [100], igual para los CC y CCC. En un cristal, una familia de planos equivalentes se denomina por paréntesis de llave. Por ejemplo, las tres aristas no paralelas de un cubo constituyen la familia <100>, cuyos tres elementos son las direcciones [100], [010] y [001]. Propiedades de índices de Miller en cristales del sistema cúbico. 1. Dado un plano (hkl), los índices de su normal son [hkl]. Esta propiedad no siempre se cumple para cristales no cúbicos. 2. Para un plano cristalográfico {hkl}de un cristal de parámetro de celda a[nm], la respectiva distancia interplanar dhkl vale: dhkl[nm]= a[nm] / (h2 + k2 + l2 )1/2 Comentarios: La Propiedad 1 no siempre se cumple en cristales no cúbicos, por ejemplo, en cristales HC. Considere un cristal HC, determine los índices de Miller: a) de un plano basal y de su normal (se cumple) y b) de un plano de prisma y de su normal (no se cumple). Para que se cumpla siempre la Propiedad 1 en cristales HC, se ha
  • 3. desarrollado un sistema de índices de Miller-Bravais, empleando 4 índices. Esto significa utilizar un sistema de referencia de 4 ejes en un espacio 3D; por ello, los tres primeros ejes, contenidos en el plano basal, no son linealmente independientes. El cuarto eje corresponde al eje c, perpendicular al plano basal. En el texto de Smith está la materia de estos índices, pero no es parte de este curso su empleo. Según la Propiedad 2, si el trío {h k l} es grande, entonces dhkl[nm] es pequeño. Que {h k l} sea grande corresponde a que (h2 + k2 + l2 ) sea grande. La ecuación anterior que refleja esta Propiedad 2 no se cumple en cristales no cúbicos; pero, en cristales no cúbicos siempre existe una ecuación, aunque más compleja que la de los cúbicos, cuyo análisis también lleva a concluir: los planos de índices menores son los que presentan las mayores distancias interplanares. Nótese que si en la ecuación de la Propiedad 2 no se ingresan los valores de {h k l} correctamente calculados, entonces el resultado de la distancia interplanar será erróneo; esto es muy grave al estar resolviendo problemas de difracción. Por ejemplo, para un cristal CCC no es raro que en vez de los índices correctos {200} se asignen los índices incorrectos, para el propósito de calcular la distancia interplanar, {100}. Sin embargo, en ambos casos se obtiene la correcta dirección de la normal. En efecto, las direcciones [200] y [100] son paralelas.