1. COMPARADOR ÓPTICO
El equipode mediciónópticamásutilizadoendiversasindustriasesel comparadoróptico;también
se le conoce comoproyector de perfilesporque esunexcelente medioparamedirpiezaspequeñas
a través de la visualización de su imagen amplificada sobre una pantalla traslucida.
Como otros equipos, los comparadores ópticos han evolucionado continuamente desde que
apareció el primero, en 1915, hasta nuestros días
CLASIFICACIÓN
Los comparadores ópticos se clasifican, por el tipo de iluminación que emplean, en horizontal,
vertical ascendenteyvertical descendente,la figura5.1muestraunode iluminaciónhorizontal con
el nombre de laspartesprincipalesque lointegran.Lasfiguras5.2y5.3 muestranlos de iluminación
vertical ascendente y descendente, respectivamente.
Figura 1 comparador óptico de iluminación horizontal.
2. Figura 2. Comparador óptico de iluminación vertical ascendente.
Figura 3. Comparador óptico de iluminación vertical descendente.
3. Figura 4, figura 5, imagen con iluminación de contorno, imagen con iluminación de superficie.
SISTEMAS DE ILUMINACIÓN
La clasificación anterior está basada en la iluminación de contorno pero además de ésta se tiene
iluminaciónde superficies;enlasfiguras 3y4 se muestralaaplicaciónde ambotiposdeiluminación
de contorno es posible hacer mediciones y con la de superficie pueden hacerse observaciones de
las condiciones de la superficie y mediciones. Ambos tipos de iluminación pueden utilizarse
simultáneamentey porlogeneral,se cuentaconuncontrol que permiteaumentarlaintensidad de
lailuminaciónde superficie ponarribade lonormalparasuperficiespocoreflejantes.Se recomienda
sólo utilizar alta intensidad cuando sea necesario para no reducir la vida útil de la lámpara.
La figura 6 muestra la trayectoria de la luz en un comparador óptico con iluminación vertical
ascendente.
La figura7muestralatrayectoriade laluzutilizadaparailuminacióndelcontornoenuncomparador
de iluminación horizontal.
La figura 8 muestra la trayectoria de la luz utilizada para iluminación de superficie en un
comparador de iluminación horizontal.
Para usar la iluminación de superficie se requiere utilizar un espejo semireflejante o espejo
semiazogado que se coloca frente a las lentes de proyección de bajo aumento ('1 0x y 20x) ir que
está integrado dentro de las lentes de proyección de alto aumento (50x y 100x) (figura9). Para
mejorarel contraste de la imagenpuedenutilizarseespejosde reflexiónyasí iluminarla superficie
de la piezaendirecciónoblicuaaella.Sinembargo,coneste últimométodopuedenocurrirerrores
de dimensión (figuras 10 y 11).
La figura 12 muestra el espejo semirreflejante y el espejo oblicuo ya montados.
5. Figura 8. Sistema óptico de iluminación de superficie.
Figura 9.
Figura 10.
6. Figura 11.
Figura 12.
MEDICIÓN LINEAL
Sobre laplatinase colocala piezaque vayaa medirse yéstase alejao acerca al lente de proyección
(véase la figura 13) girando la manivela para enfocar hasta que se logre obtener una imagen
claramente definida de la parte que se desea medir u observar sobre la pantalla.
Para facilitar el posicionamiento adecuado de piezas, las platinas cuentan con ranuras en las que
pueden introducirse dispositivos de sujeción o posicionamiento de piezas (figura 14).
Antes de realizar cualquier medición, es conveniente verificar que la pantalla que puede girar
continuamente en cualquier dirección haya sido fijada en la posición de referencia (figura 15).
Sobre la pantalla hay dos líneas perpendiculares entre sí, que después de verificar la posición de
cero una queda en posición horizontal y otra en vertical. Estas líneas pueden ser delgadas y
continuas o delgadas interrumpidas alternadas (figura 15). Estas líneas servirán como referencia
para efectuar mediciones. Una vez enfocada la imagense alinea algúnlado de la pieza con alguna
de las líneascitadas,auxiliándose deldesplazamientoque esposiblelograrendosdirecciones -ejes
X y Y- mutuamente perpendiculares de la platina.
El movimiento de la platina se controla mediante manivela o cabezas micrométricas (véase figura
17).
Cuando la pieza esté como en la figura 18, ponga cero en la pantalla de la cabeza micrométrica
electrónica;enseguidamuevaéstaúltimahasta que el otro borde de la piezaesté alineadoconla
mismalíneade referencia(figura19) y leaentoncesel anchode la piezaenla pantallade lacabeza
micrométrica.
Conunacabezamicrométricaconvencional tomelalecturaenlaposicióninicial,luego enlaposición
final yencuentreladiferenciaentre ambas.EIanchode lapiezaenestetipode cabezamicrométrica
se determina tomando la lectura en la misma forma que con un micrómetro convencional. Para
determinar la longitud de la pieza se procedería de la misma forma, utilizandoesta vez la línea de
referencia vertical y la otra cabeza micrométrica o manivela.
9. Figura 21.
La utilizaciónde cabezasmicrométricaslimitael desplazamientomáximoa50 mm. Por estarazón,
para medirpiezasque requieranundesplazamientomayoral que permite Iaplatinaseránecesario
insertar un bloque patrón, de una dimensión adecuada, entre el tope del husillo de la cabeza
micrométrica y el correspondiente tope de la platina (figura 21).
Figura 22.
Los dosúltimosproblemasse evitanequipandoel comparadorconescalaslinealesynoconcabezas
micrométricas, así se obtendrán las lecturas en un contador separado (figura 22) o integrado al
cuerpo del comparador (figura 2).
Figura 23.
Figura 24.