Short presentation at IMDEA Materials Institute (Getafe, Spain) during June 2018 showing my expertise using X-rays and possible developments of this principle in the field of carbon nanotubes.

1. Breve presentación
Javier García Molleja
IMDEA Materials Institute, Getafe, Spain
IMDEA, Madrid 2018

2. Formación doctoral
• Cristalografía de Rayos X (90 horas)
– Absorción de rayos X, fuentes de rayos X
– Simetrías del cristal y redes de Bravais
– Índices de Miller, red recíproca
– Interferencias de ondas, ley de Bragg
– Dispersión Thompson y extinciones
– Intensidad del haz difractado y esfera de Ewald
– Método de Laue, método del polvo (geometría Bragg-Brentano),
dispositivos experimentales y detectores
– Ecuación de Scherrer, tensión, método de Rietveld
– Análisis de texturas, geometría de haz rasante
– Tipo estructural del cristal y defectos
– Difractometría de alta resolución
– Materiales amorfos y reflectividad de rayos X

3. Formación complementaria
• Curso de Técnicas experimentales con luz sincrotrón (22 a 26-6 de
2009) - CITEFA
• I Taller de la Asociación Argentina de Cristalografía: Técnicas de luz
sincrotrón para caracterización de materiales (30-10-2012)
• VIII Reunión anual de la Asociación Argentina de Cristalografía (31-
10 a 2-11 de 2012)
• De 2007 a 2012 utilizando PHILIPS X’Pert (Cu Ka, X’Pert Data
Collection) del IFIR de Rosario (Argentina)
• De 2013 a 2014 utilizando SIEMENS Diffraktometer D5000 (Cu Ka,
PCPDFWIN) del IMN de Nantes (Francia)
• En 2009 y 2013 utilizando (40 horas) líneas D12A/XRD1 y XDS (con
goniómetro Hubber) del LNLS de Campinas (Brasil)

4. Investigación relacionada con rayos X
• Determinación de fases cristalográficas y
desarrollo de austenita expandida mediante
GIXRD

5. Investigación relacionada con rayos X
• Estabilidad de la austenita expandida ante
irradiación iónica y altas temperaturas mediante
GIXRD

6. Investigación relacionada con rayos X
• Evolución estructural de semiconductores binarios (AlN, TiN, NiO) ante
cambio de parámetros experimentales con GIXRD, Bragg-Brentano,
Scherrer

7. Investigación relacionada con rayos X
• Ajuste de contribuciones gaussianas y lorentzianas al ancho de pico
y cálculo de índice de texturas para láminas delgadas de CrN
J. García Molleja et al (en preparación)
20 25 30 35 40 45 50 55 60
0
2000
4000
6000
8000
10000
12000
C
r(110)
250°CC
rN
(200)
C
r
2N
(111)
C
rN
(111)C
r
2O
3(113)
C
r
2O
3(116)
C
r
2O
3(024)
C
r
2O
3(110)
C
r
2O
3(104)
850°C
700°C
550°C
400°C
100°C
non oxydé
C
r
2O
3(012)
angle de diffraction (2)
intensité(u.a.)
Cr
Cr2N
CrN
Cr2O3

8. Investigación relacionada con rayos X
• Determinación del periodo de superred en
multicapas de AlN/TiN con XRR
J. García Molleja (comunicación interna)

9. Investigación relacionada con rayos X
• Construcción y análisis de un reactor para el análisis en tiempo real
de la evolución de textura mediante luz sincrotrón
J. García Molleja et al (en preparación)

10. Posibles aplicaciones de rayos X vinculadas a las líneas de
investigación del grupo
• Análisis de purificación y densificación de depósitos de
CNT con recocido
Al aumento de la temperatura mejora la densificación
Carbon 39 (2001) 1681-1687

11. Posibles aplicaciones de rayos X vinculadas a las líneas de
investigación del grupo
• Estudio con SAXS (fuente Cu Ka microfocalizada) de la
dispersión de CNT en elastómero termoplástico
La velocidad de deposición influye en la mejora de dispersión
Polymer 48 (2007) 2203-2207

12. Posibles aplicaciones de rayos X vinculadas a las líneas de
investigación del grupo
• Usos de luz sincrotrón para aplicación de SAXS (para
espesores > 1 nm) y WAXS
Compósitos CNT-polímero con alta alineación
Composites Science and Technology 69 (2009) 2649-2656
SAXS WAXS

13. • Validación de modelos teóricos (cilindros corteza-núcleo)
de dispersión de CNT en resinas aplicando SAXS
Posibles aplicaciones de rayos X vinculadas a las
líneas de investigación del grupo
SAXS confirma lo analizado con técnicas alternativas, pero es insensible al tipo de dispersión
Chemistry Letters Vol.34, No.4 (2005) 524-525

14. Posibles aplicaciones de rayos X vinculadas a las líneas de
investigación del grupo
• Sincrotrón para SAXS/WAXS simultáneo
WAXS puede medir la velocidad de cristalización de MWCNT/PCL y SAXS identifica estructura
Polymer 55 (2014) 2220-2232
SAXS
WAXS

15. Se pueden aplicar más cosas…
• Tensiones residuales con d – sen2 y
• Búsqueda de picos satélite para adivinar
estructura interna
• Etc.