El documento explica varios índices utilizados en Six Sigma para medir la capacidad de un proceso. Define el índice de capacidad de proceso (Cp) y el índice de capacidad de proceso ajustado (Cpk), y explica que Cpk es más significativo cuando un proceso no está centrado. También define las métricas Partes Por Millón (PPM) y Defectos Por Millón de Oportunidades (DPMO), las cuales miden defectos en relación al tamaño de la muestra. Finalmente, señala que estos términos permiten