descripcion de los diferentes tipos de microscopios electronicos, para caracterizacion microestructural

1. Microscopios electrónicos
El microscopio electrónico es un instrumento de gran utilidad en la
investigación científica gracias a su gran poder de aumento. Mediante este
tipo de microscopio es posible aumentar imágenes de muestras hasta
niveles muy superiores a los del microscopio óptico.
El principio de funcionamiento de un microscopio electrónico se basa en
utilizar electrones en lugar de luz visible. La longitud de onda con la que se
mueve un electrón es inversamente proporcional a su velocidad. Esto
significa que si los electrones son acelerados a altas velocidades pueden
obtenerse longitudes de onda muy cortas.
La longitud de onda más corta de la luz visible es de alrededor de 4.000
angstroms (1 angstrom es 0,0000000001 metros). La longitud de onda de
los electrones que se utilizan en los microscopios electrónicos es de
alrededor de 0,5 angstroms.

2. Tipos de microscopios electrónicos
Microscopio electrónico de transmisión (MET)
La principal característica del microscopio electrónico de transmisión es que se utilizan
electrones que atraviesan la muestra. Los electrones son conducidos hacia la muestra
mediante las lentes electromagnéticas. Cuando los electrones impactan contra la muestra,
algunos de ellos consiguen atravesarla y otros son dispersados. Los electrones que pueden
pasar al otro lado de la muestra son capturados por un detector dando lugar así a una
imagen. Esta técnica de microscopía es muy útil para visualizar los detalles internos de una
muestra, por ejemplo, estructuras cristalinas. La principal limitación que tiene esta técnica es
que no permite extraer información de la superficie de la muestra.
Microscopio electrónico de barrido (MEB)
En el microscopio electrónico de barrido también es necesario que los electrones impacten
contra la muestra. En este caso, los electrones no iluminan toda la muestra simultáneamente
sino que se hace un escaneado recorriendo los distintos puntos de la muestra. Cuando los
electrones impactan con la muestra estos pierden parte de su energía debido a distintas
interacciones. Parte de su energía inicial se transforma en calor o en emisiones de rayos X.
Además, se produce también la emisión de electrones que se desprenden de la superficie de
la muestra. Estos electrones se conocen como electrones secundarios. Un detector mide la
cantidad de electrones enviados que arroja la intensidad de la zona de muestra, siendo capaz
de mostrar figuras en tres dimensiones, proyectados en una imagen.

3. Partes del microscopio electrónico
Las partes principales de un microscopio electrónico incluyen aquellos
elementos utilizados para generar electrones y dirigirlos hacia la muestra.
MET MEB

4. Se han desarrollado otros tipos de microscopios
electrónicos:
Microscopio Electrónico de Reflexión (REM)
En el Microscopio Electrónico de Reflexión (REM) como en el TEM, un haz de
electrones incide sobre una superficie, pero en lugar de usar la transmisión (TEM) o
los electrones secundarios (SEM), se detecta el haz reflejado de electrones
elásticamente dispersos.
Esta técnica generalmente se combina con el espectro de alta energía de la
espectroscopia (RHEED) de la difracción de electrón de la reflexión y de la baja
(RHELS) de la reflexión.
Microscopio Electrónico de Transmisión con unidad de Barrido (STEM)
El STEM rastrea una sonda incidente enfocada a través de un espécimen que (como
con el TEM) se ha adelgazado para facilitar la detección de electrones dispersados
a través del espécimen. La alta resolución del TEM es así posible en STEM. La
acción de enfoque (y las aberraciones) ocurren antes de que los electrones golpeen
la muestra en el STEM, pero luego en el TEM. El uso de STEM de rasterización de
haz similar a SEM simplifica la imagen de campo oscuro anular y otras técnicas
analíticas, pero también significa que los datos de imagen se adquieren en serie en
lugar de en forma paralela.