Este documento describe las principales técnicas para caracterizar materiales, incluyendo la difracción de rayos X, el análisis metalográfico y la espectrometría. La difracción de rayos X se utiliza para determinar las estructuras cristalinas y parámetros reticulares mediante el estudio de la difracción de rayos X por los planos atómicos. El análisis metalográfico implica el estudio de la microestructura mediante un microscopio óptico después de preparar y atacar químicamente una muestra.