SlideShare una empresa de Scribd logo
1 de 32
CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO
CAPACIDAD Y DESEMPEÑO
DEL PROCESO
H. Hernández / P. Reyes
Sept. 2007
Página 1 de 32
CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO
CONTENIDO
1. Introducción
a. Definiciones básicas
b. Objetivos
c. Partes fuera de especificaciones
d. Variación a corto y a largo plazo
2. Cálculo de la capacidad del proceso
a. Condiciones y fórmulas para el estudio de capacidad
b. Capacidad a partir de histogramas
c. Capacidad a partir de papel de probabilidad normal
d. Otros índices de capacidad del proceso
3. Cálculo del desempeño de los proceso
4. Capacidad y desempeño de procesos con Minitab
5. Capacidad de procesos no normales
6. Capacidad de procesos por atributos
Página 2 de 32
CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO
CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO
1. Introducción
Al planear los aspectos de calidad de la manufactura, es sumamente
importante asegurarse de antemano de que el proceso será capaz de
mantener las tolerancias. En las décadas recientes ha surgido el concepto
de capacidad del proceso ó habilidad del proceso, que proporciona una
predicción cuantitativa de qué tan adecuado es un proceso. La habilidad
del proceso es la variación medida, inherente del producto que se obtiene
en ese proceso.
1 a. Definiciones básicas.
• Proceso: Éste se refiere a alguna combinación única de máquinas,
herramientas, métodos, materiales y personas involucradas en la
producción.
• Capacidad o habilidad: Esta palabra se usa en el sentido de aptitud,
basada en el desempeño probado, para lograr resultados que se
puedan medir.
• Capacidad del proceso: Es la aptitud del proceso para producir
productos dentro de los límites de especificaciones de calidad.
• Capacidad medida: Esto se refiere al hecho de que la capacidad
del proceso se cuantifica a partir de datos que, a su vez, son el
resultado de la medición del trabajo realizado por el proceso.
• Capacidad inherente: Se refiere a la uniformidad del producto que
resulta de un proceso que se encuentra en estado de control
estadístico, es decir, en ausencia de causas especiales o atribuibles
de variación.
Página 3 de 32
CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO
• Variabilidad natural: Los productos fabricados nunca son idénticos
sino que presentan cierta variabilidad, cuando el proceso está bajo
control, solo actúan las causas comunes de variación en las
características de calidad.
• Valor Nominal: Las características de calidad tienen un valor ideal
óptimo que es el que desearíamos que tuvieran todas las unidades
fabricadas pero que no se obtiene, aunque todo funcione
correctamente, debido a la existencia de la variabilidad natural.
1b. Objetivos1
1. Predecir en que grado el proceso cumple especificaciones.
2. Apoyar a diseñadores de producto o proceso en sus modificaciones.
3. Especificar requerimientos de desempeño para el equipo nuevo.
4. Seleccionar proveedores.
5. Reducir la variabilidad en el proceso de manufactura.
6. Planear la secuencia de producción cuando hay un efecto interactivo
de los procesos en las tolerancias.
p = porcentaje de medidas bajo la curva de probabilidad fuera de
especificaciones.
1
Douglas C. Montgomery, Introduction to Statistical Quality Control, Second Edition, pp 307
Página 4 de 32
CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO
1c. Partes fuera de especificaciones
En el área sombrada observamos medidas fuera de los límites de
especificación.
Para solucionar este problema, podemos reducir la desviación estándar.
También podríamos cambiar la media.
Lo ideal sería, por supuesto cambiar ambas.
Página 5 de 32
CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO
1d. Variación a corto plazo y a largo plazo
Existen dos maneras de expresar la variabilidad:
Variación a corto plazo (Zst) – Los datos son colectados durante un periodo
de tiempo suficientemente corto para que sea improbable que haya
cambios y otras causas especiales.
Las familias de variación han sido restringidas de tal manera que los datos
considerados, sólo son los que se obtuvieron del subgrupo racional. Ayuda
a determinar subgrupos racionales importantes.
Variación a Largo Plazo(Zlt) – Los datos son colectados durante un
periodo de tiempo suficientemente largo y en condiciones suficientemente
diversas para que sea probable que incluya todos los cambios de proceso
y otras causas especiales. Aquí todas las familias de variación exhiben su
contribución en la variación del proceso general.
Página 6 de 32
CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO
En el caso del corto plazo:
Para el cálculo de Z utilizamos las siguientes formulas:
( )
ST
st
stddesv
nomespeciflímite
Z
.
.. −
=
LT
LT
stddesv
mediaespeciflímite
Z
.
. −
=
dónde:
Zst = variación a corto plazo.
nom = Valor nominal u objetivo
Zlt = variación a largo plazo.
Z shift.- A largo plazo los procesos tienen un desplazamiento natural de 1.5
desviaciones estándar, de acuerdo a lo observado por Motorota Inc.
Zlt = Zst-1.5shift
2. Cálculo de la capacidad del proceso
Antes de calcular la capacidad del proceso, el proceso debe estar en
control estadístico.
2a. Condiciones y fórmulas para el estudio de capacidad del proceso
Página 7 de 32
CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO
Para realizar un estudio de capacidad es necesario que se cumplan los
siguientes supuestos2
:
• El proceso se encuentre bajo control estadístico, es decir sin la influencia
de fuerzas externas o cambios repentinos. Si el proceso está fuera de
control la media y/o la desviación estándar del proceso no son estables
y, en consecuencia, su variabilidad será mayor que la natural y la
capacidad potencial estará infravalorada, en este caso no es
conveniente hacer un estudio de capacidad.
• Se recolectan suficientes datos durante el estudio de habilidad para
minimizar el error de muestreo para los índices de habilidad. Si los datos
se componen de menos de 100 valores, entonces deben calcularse los
límites de confianza inferiores.
• Los datos se recolectan durante un periodo suficientemente largo para
asegurar que las condiciones del proceso presentes durante el estudio
sean representativos de las condiciones actuales y futuras. En el caso de
la industria automotriz se especifican 300 partes mínimo.
• El parámetro analizado en el estudio sigue una distribución de
probabilidad normal, de otra manera, los porcentajes de los productos
asociados con los índices de capacidad son incorrectos y solo se
podrán determinar los índices de desempeño del proceso, que no toma
en cuenta si el proceso está en control o no.
También es importante al realizar un estudio de capacidad, asegurarnos
que la variación en el sistema de medición no sea mayor al 10%.
Para calcular la habilidad o capacidad potencial, primero se determina la
desviación estándar estimada de la población como sigue:
2
J.M. Juran, Análisis y planeación de la Calidad, Tercera Edición Mc. Graw Hill, Pp.404
Página 8 de 32
CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO
2d
R
ST =σ
( )
ST
p
LIELSE
C
σ6
−
=
donde:
Cp = capacidad potencial
LSE = límite superior de especificaciones
LIE = límite inferior de especificaciones
STσ = desviación estándar a corto plazo
El índice Cp debe
ser 33.1≥ para tener el potencial de cumplir con especificaciones (LIE,
LSE)
Los valores Z se determinan como sigue:
ST
I
XLIE
Z
σ
−
=
ST
S
XLSE
Z
σ
−
=
Para calcular la ha
bilidad o capacidad real utilizamos la siguiente fórmula:
3
, SI
pk
ZZmenor
C =
Para que el proceso cumpla con las especificaciones el Cpk= debe de ser
33.1≥ .
Página 9 de 32
CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO
2b. Capacidad a partir de histogramas
Procedimiento:
1. Seleccionar un proceso específico para realizar el estudio
2. Seleccionar las condiciones de operación del proceso
3. Seleccionar un operador entrenado
4. El sistema de medición debe tener habilidad (error R&R < 10%)
5. Cuidadosamente recolectar la información
6. Construir un histograma de frecuencia con los datos
7. Calcular la media y desviación estándar del proceso
8. Calcular la capacidad del proceso.
Ejemplo 1:
Tenemos la siguiente serie de datos:
265 205 263 307 220 268 260 234 299
197 286 274 243 231 267 281 265 214
346 317 242 258 276 300 208 187 264
280 242 260 321 228 250 299 258 267
265 254 281 294 223 260 308 235 283
200 235 246 328 296 276 264 269 235
221 176 248 263 231 334 280 265 272
265 262 271 245 301 280 274 253 287
261 248 260 274 337 250 278 254 274
278 250 265 270 298 257 210 280 269
215 318 271 293 277 290 283 258 275
Agrupando los datos por intervalos de clase obtenemos los datos
mostrados en la siguiente tabla:
Intervalo
de clase
Marca de
clase
Frecuencia
Frecuencia
relativa
Frecuencia
acumulada
190-209 199.5 6 0.06 0.06
210-229 219.5 7 0.07 0.13
230-249 239.5 13 0.13 0.26
250-269 259.5 32 0.32 0.58
270-289 279.5 24 0.24 0.82
290-309 299.5 11 0.11 0.93
310-329 319.5 4 0.04 0.97
330-349 339.5 3 0.03 1
Página 10 de 32
CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO
El histograma es el siguiente:
360330310290260230210190160
40
30
20
10
0
Dat os
Frequency
Histogram of Datos
Observamos que el histograma tiene forma normal.
Calculando la media y la desviación estándar tenemos:
Descriptive Statistics: Datos
Variable N N* Mean SE Mean StDev Minimum Q1 Median Q3
Datos 99 0 264.19 3.23 32.15 176.00 248.00 265.00 280.00
19.264=X
S = 32.15
La variabilidad del proceso se encuentra en 6 s = 192.90
Si las especificaciones fueran LIE = 200 y LSE = 330
Página 11 de 32
CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO
( )
S
LIELSE
Cp
6
−
=
( ) 674.
90.192
200330
=
−
= < 1.33, el proceso no es hábil.
( ) 046.2
15.32
19.264330
=
−
=iZ
( ) 996.1
15.32
19.264200
−=
−
=sZ
66.0
3
2
3
,
===
SI
pk
ZZmenor
C
Cpk = menor 1.33, por lo tanto el proceso no cumple especificaciones.
2c. Capacidad a partir de papel normal
Ventajas
1. Se puede observar el comportamiento del proceso sin tomar tantos
datos como en el histograma, 10 son suficientes
2. El proceso es más sencillo ya que no hay que dividir el rango de la
variable en intervalos de clase como en el histograma.
3. Visualmente se puede observar la normalidad de los datos, si se apegan
a la línea de ajuste
Página 12 de 32
CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO
4. Permite identificar la media y la desviación estándar aproximada del
proceso. Así como la fracción defectiva, el porcentaje de datos entre
cierto rango, el Cp y el Cpk.
Procedimiento
1. Se toman al menos n = 10 datos y se ordenan en forma ascendente,
asignándoles una posición ( j ) entre 1 y n.
2. Se calcula la probabilidad de cada posición con la fórmula siguiente:
Pj = (j - 0.5) / n
3. En el papel especial normal se grafica cada punto (Xj, Pj)
4. Se ajusta una línea recta que mejor aproxime los puntos
5. Si no hay desviaciones mayores de la línea recta, se considera normal el
proceso y se procede a hacer las identificaciones:
La media será el punto en X correspondiente a Pj = 0.5
La desviación estándar es la diferencia en Xj correspondiente a Pj = 0.5 y Pj
= 0.84
Ejemplo 2
. Se tomaron los datos siguientes (Xj) ordenamos los datos y, cálculamos la
probabilidad de su posición (Pj)
Pos. J Xj Pj
1 197 0.025
2 200 0.075
3 215 0.125
4 221 0.175
Página 13 de 32
CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO
5 231 0.225
6 242 0.275
7 245 0.325
8 258 0.375
9 265 0.425
10 265 0.475
11 271 0.525
12 275 0.575
13 277 0.625
14 278 0.675
15 280 0.725
16 283 0.775
17 290 0.825
18 301 0.875
19 318 0.925
20 346 0.975
Con ayuda del gráfico podemos obtener la media, la desviación estándar
y el porcentaje de valores que se encuentran fuera de especificaciones.
El trazo normal es el siguiente:
El eje Y es un rango no lineal de probabilidades normales.
El eje X es un rango lineal de la variable que se está analizando.
Si los datos son normales, la frecuencia de ocurrencias en varios valores Xi,
puede predecirse usando una línea sólida como modelo. Por ejemplo,
sólo más del 20% de los datos del proceso serían valores de 225 o inferiores.
Página 14 de 32
CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO
400350300250200150
99
95
90
80
70
60
50
40
30
20
10
5
1
Xj
Percent
Mean 262.9
StDev 38.13
N 20
AD 0.262
P-Value 0.667
Probability Plot of Xj
Normal - 95% CI
2d. Capacidad a partir de cartas de control
En casos especiales como estos donde las variaciones presentes son
totalmente inesperadas tenemos un proceso inestable ó impredecible.
Página 15 de 32
0.5
X Media
0.84
Desv. Estándar
Xj
Pj
LIE
Fracción
Defectiva
?
? ?
? ?
? ?
CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO
Si las variaciones presentes son iguales, se dice que se tiene un proceso
“estable”. La distribución será “predecible” en el tiempo.
Cálculo de la desviación estándar del procesoCálculo de la desviación estándar del proceso
2d
R
=σ ó
4C
S
=σ (Para cartas de control X-R y X-S respectivamente)
Donde,
Página 16 de 32
Predicción
Tiempo
CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO
S = Desviación estándar de la población
d2 = Factor que depende del tamaño del subgrupo en la carta de control
X - R
C4 = Ídem al anterior para una carta X - S
Al final del texto se muestran las constantes utilizadas para las cartas de
control.
En una carta por individuales, d2 se toma para n = 2 y Rango Medio =
Suma rangos / (n -1)
Página 17 de 32
CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO
Ejemplo 3 (carta X - R)
De una carta de control X - R (con subgrupo n = 5) se obtuvo lo siguiente,
después de que el proceso se estabilizó quedando sólo con causas
comunes: x = 64.06 , R = 77.3
Por tanto estimando los parámetros del proceso se tiene:
( )mediasdemediax=µ
23.33
326.2
3.77
2
===
d
R
σ
Si el límite de especificación es: LIE = 200.
El
( )
23.333
06.264200
×
−
=pkC = 0.64 por tanto el proceso no cumple con las
especificaciones.
Ejemplo 4 (carta X - S)
De una carta de control X - S (con subgrupo n = 5) se obtuvo lo siguiente,
después de que el proceso se estabilizó quedando sólo con causas
comunes: 05.1,100 == sx
Por tanto estimando los parámetros del proceso se tiene:
100== xµ
Página 18 de 32
CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO
4C
s
=σ = 117.1
094.
05.1
=
C4 para n = 5 tiene el valor 0.94
Si el límite de especificación es: LIE = 85 y el LSE = 105.
El
( ) 492.1
117.13
100105
=
×
−
=pkC
El
( ) 984.2
117.16
85105
=
×
−
=pC
Por lo tanto el proceso es capaz de cumplir con especificaciones.
Ejemplo 5:
De una carta de control X - R (con subgrupos de n = 5), después de que el
proceso se estabilizó quedando sólo con causas comunes, se obtuvo lo
siguiente:
Xmedia de medias = 264.06 Rmedio = 77.3
Por tanto estimando los parámetros del proceso se tiene:
µ = X media de medias σ = Rmedio / d2 =77.3 / 2.326 = 33.23
[ d2 para n = 5 tiene el valor 2.326]
Si el límite de especificación es: LIE = 200.
El Cpk = (200 - 264.06) / (77.3) (3) = 0.64 por tanto el proceso no cumple con
las especificaciones
Página 19 de 32
CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO
2d. Otros índices de capacidad del proceso
INDICE DE CAPACIDAD Cpm
Es un indicador de capacidad potencial que toma en cuenta el centrado
del proceso:
Si
σ
TX
V
−
= donde T es el centro de las especificaciones.
222
)(61 T
LIELSE
V
Cp
Cpm
−+
−
=
+
=
µσ
Cuando T es igual a X media del proceso, Cpm = Cp = Cpk
INDICE DE CAPACIDAD Cpkm
Es un indicador de capacidad real que toma en cuenta el centrado del
proceso:
Si T es el centro de las especificaciones.
2
1 




 −
+
=
σ
µ T
Cpk
Cpkm
Cuando T es igual a X media del proceso, Cpkm = Cpk
3. Cálculo del desempeño de los procesos
Para determinar el Cp y Cpk se requiere que el proceso esté en control
estadístico, ya que la desviación estándar de la población se estima con
Rango medio / d2 (constante que solo es válida cuando el proceso está
en control).
Página 20 de 32
CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO
Para el caso de datos históricos, el proceso no está en control y se puede
determinar el desempeño del proceso utilizando la desviación estándar de
todos los datos ajustada con una constante C4, denominada Sigma a
largo plazo o desviación estándar Overall.
1
)(
1
2
−
−
=
∑=
n
XX
S
n
i
i
34
)1(4
4
−
−
=
n
n
C
4C
S
LT=σ
Con la desviación estándar a largo plazo se determinan los índices de
desempeño Pp y Ppk no importando si el proceso está en control o no, en
este último caso los valores no tienen significado práctico.
Para calcular el desempeño potencial del proceso utilizamos la siguiente
fórmula:
( )
LT
p
LIELSE
P
σ6
−
=
Página 21 de 32
CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO
donde:
Pp = Índice de desempeño potencial
LSE = límite superior de especificaciones
LIE = límite inferior de especificaciones
LTσ = desviación estándar estimada a largo plazo
El índice pP debe
ser 33.1≥ para tener el potencial de cumplir con especificaciones (LIE,
LSE)
Las variables transformadas Z’s son las siguientes:
LT
XLSE
Zs
σ
−
= ;
LT
I
XLIE
Z
σ
−
=
Para calcular el índice de desempeño real del proceso utilizamos la
siguiente fórmula:
3
, SI
pk
ZZmenor
P =
Para que el proceso cumpla con las especificaciones el Ppk= debe de ser
1≥ .33.
Página 22 de 32
CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO
Ejercicio 6
De una carta de control X - R (con tamaño de subgrupo n = 5), después de
que el proceso se estabilizó quedando sólo con causas comunes (LIE = 36,
LSE = 46) se obtuvo lo siguiente:
Xmedia de medias = 40 Rmedio = 5
a) Determinar la desviación estándar del proceso
b) Determinar los límites de tolerancia natural del proceso
c) Determinar la fracción defectiva o porcentaje fuera de especificaciones
d) Determinar el Cp
e) Determinar el Cpk
f) Determinar el Cpm
g) Determinar el Cpkm
h) Establecer conclusiones de los resultados anteriores
Página 23 de 32
CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO
4. Capacidad y desempeño de procesos en Minitab
Generar 100 datos aleatorios en Minitab con Media = 264.6 y Desviación
estándar S = 32.02 con
1. Calc > Random data > Normal
2. Generate 100 Store in columns C1 Mean 264.06 Estándar deviation
32.02 OK
Considerando Límites de especificaciones LIE = 200 y LSE = 330
Nos aseguramos que los datos se distribuyan normalmente con la prueba
de Ryan como sigue:
3. Stat > Basic statistics > Normalita Test
4. Variable C1 Seleccionar Ryan Joiner test OK
El P value debe ser mayor a 0.05 para que los datos se distribuyan
normalmente
Dat os
Percent
350300250200150
99.9
99
95
90
80
70
60
50
40
30
20
10
5
1
0.1
Mean
>0.100
269.3
StDev 30.72
N 100
RJ 0.994
P-Value
Probability Plot of Datos
Normal
Otra opción por medio de una gráfica de probabilidad normal, se tiene:
Página 24 de 32
CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO
5. Graph > Probability plot > Normal
6. Graph Variable C1
7. Distribution Normal OK
Los puntos deben quedar dentro del intervalo de confianza para indicar
que es normal la distribución.
Dat os
Percent
400350300250200150
99.9
99
95
90
80
70
60
50
40
30
20
10
5
1
0.1
Mean
0.533
269.3
StDev 30.72
N 100
AD 0.317
P-Value
Probability Plot of Datos
Normal - 95% CI
Determinación de la capacidad del proceso con Minitab
Una vez comprobada la normalidad de los datos, determinar la
capacidad con:
1. Stat > Quality tools > Capability análisis > Normal
2. Single column C1 Subgroup size 1 Lower Spec 200 Upper spec 330
3. Estimate R-bar OK
Los resultados se muestran a continuación:
Página 25 de 32
CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO
360330300270240210
LSL USL
Process Data
Sample N 100
StDev (Within) 30.83472
StDev (Ov erall) 30.80011
LSL 200.00000
Target *
USL 330.00000
Sample Mean 269.25354
Potential (Within) Capability
CCpk 0.70
Ov erall Capability
Pp 0.70
PPL 0.75
PPU 0.66
Ppk
Cp
0.66
Cpm *
0.70
CPL 0.75
CPU 0.66
Cpk 0.66
Observ ed Performance
PPM <  LSL 10000.00
PPM >  USL 30000.00
PPM Total 40000.00
Exp. Within Performance
PPM <  LSL 12353.30
PPM >  USL 24415.36
PPM Total 36768.66
Exp. Ov erall Performance
PPM <  LSL 12272.69
PPM >  USL 24288.79
PPM Total 36561.48
Within
Overall
Process Capability of Datos
Interpretación:
La desviación estándar Within se determina en base al Rango medio y d2
(1.128 para n = 2), con esta se determinan los índices de capacidad
potencial Cp y Cpk, así como el desempeño Within, lo cual es adecuado
para un proceso en control o normal.
La desviación estándar Overall se determina con la desviación estándar de
los datos ajustado por el factor C4.
Página 26 de 32
CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO
Opción Six Pack para mostrar toda la información relevante:
Determinar la capacidad con:
4. Stat > Quality tools > Capability Six Pack > Normal
5. Single column C1 Subgroup size 5 Lower Spec 200 Upper spec 330
6. Estimate R-bar OK
Los resultados se muestran a continuación:
IndividualValue
1009080706050403020101
320
240
160
_
X= 269.3
UCL= 361.8
LCL= 176.7
MovingRange
1009080706050403020101
100
50
0
__
MR= 34.8
UCL= 113.6
LCL= 0
Observation
Values
10095908580
300
250
200
360330300270240210
400300200
Within
Overall
Specs
Within
StDev 30.83472
Cp 0.70
Cpk 0.66
CCpk 0.70
Ov erall
StDev 30.80011
Pp 0.70
Ppk 0.66
Cpm *
1
1
Process Capability Sixpack of Datos
I Char t
M ov ing Range Char t
Last 2 5 Obser v at ions
Capabilit y H ist ogr am
Nor m al Pr ob Plot
AD: 0.317, P: 0.533
Capabilit y Plot
En este caso de la gráfica de probabilidad normal, los datos siguen una
distribución normal.
Página 27 de 32
CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO
5. Capacidad de procesos no normales.
Cuando los datos provienen de poblaciones no normales una opción para
realizar el estudio de capacidad de procesos es mediante la distribución
Weibull o alguna otra distribución que ajuste a los datos.
Ejemplo en Minitab
En una compañía se manufacturan losetas para piso, el problema que se
tiene es referente a la deformación en las mismas. Se toman 100
mediciones durante 10 días. El límite superior de especificación (USL) = 3.5
mm Realice un estudio de capacidad con la ayuda de Minitab e
interprete los resultados.
Generar 100 datos aleatorios en Minitab con Factor de forma = 1, Factor
de escala = 1 con
8. Calc > Random data > Weibull
9. Generate 100 Store in columns C1 Shape parameter 1.2 Scale
parameter 1 Threshold parameter 0 OK
Considerando Límites de especificaciones LIE = 0 y LSE = 3.5
Determinar la capacidad con:
7. Stat > Quality tools > Capability análisis > NonNormal
8. Single column C1 Distribution Weibull Lower Spec 0 Upper spec 3.5
9. OK
Página 28 de 32
CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO
Los resultados se muestran a continuación:
3.53.02.52.01.51.00.50.0
USL
Process Data
Sample N 100
Shape 1.24929
Scale 0.88470
LSL *
Target *
USL 3.50000
Sample Mean 0.82279
Ov erall Capability
Pp *
PPL *
PPU 0.85
Ppk 0.85
Observ ed Performance
PPM <  LSL *
PPM >  USL 10000
PPM Total 10000
Exp. Ov erall Performance
PPM <  LSL *
PPM >  USL 3795.26
PPM Total 3795.26
Process Capability of Datos1
Calculations Based on Weibull Distribution Model
El histograma no muestra evidencia de alguna discrepancia seria entre el
modelo y los datos, ya que la curva muestra buen ajuste. Sin embargo
observamos que algunos datos caen fuera del límite superior de
especificación. Lo cual quiere decir que en algunos casos la deformación
será mayor a 3.5 mm.
El índice Ppk y Ppu3
= 0.85 lo cual nos dice que el proceso no es capaz ya
que 0.85<.1.33
3
Los índices Pp y Ppk son similares a los índices Cp y Cpk , se refieren a la capacidad del proceso a largo
plazo.
Página 29 de 32
CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO
También observamos que PPM > USL 3,795 lo cual significa que
aproximadamente 3,795 PPM estarán fuera de los límites de
especificaciones.
También se cuenta con la opción Six Pack para esta opción.
6. Capacidad de procesos por atributos
Para el caso de atributos, se tienen varios casos:
a. Fracción defectiva
Para productos defectivos calificados como pasa no pasa, se obtiene una
carta de control p de fracción defectiva con tamaño de muestra
constante con al menos 25 puntos, y una vez que está en control, se
determina su p media. La capacidad del proceso es
1-P media.
La capacidad del proceso equivalente para un Cp de debe ser de:
 Al menos 99.73% para una capacidad de +- 3 sigmas equivalente a
un Cp de 1
 Al menos de 99.9936% para un acapacidad equivalente a +-4 sigmas
equivalente a un Cp de 1.33.
 Para otro valor de P la capacidad equivalente en sigmas se
determina dividiendo el valor de P / 2 y obteniendo el valor de Z
correspondiente a esa área bajo la curva. La capacidad será de +-Z
sigmas.
Página 30 de 32
CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO
b. Número de defectos
En este caso se requiere verificar y en todo caso mantener el proceso en
control por medio de una carta C o U con muestra constante por al menos
25 puntos.
La referencia son el número de defectos X que el cliente acepte. Con la
línea media indicando el promedio de defectos o C media, entramos a la
tabal binomial o de Poisson tomando como Lamda la C media y como X
los defectos aceptables por el cliente.
La probabilidad de aceptación mínima debe ser de 99.73% equivalente a
un Cp de 1 o de 99.9936% para un Cp de 1.33, cualquier valor inferior
indicará falta de capacidad del proceso.
Página 31 de 32
CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO
TABLA DE CONSTANTES PARA EL CALCULO DE LIMITES DE CONTROL
Las constantes para límites de control en las cartas X-R son:
n A2 D3 D4 d2
2 1.88 0 3.267 1.128
3 1.023 0 2.574 1.693
4 0.729 0 2.282 2.059
5 0.577 0 2.115 2.326
6 0.483 0 2.004 2.534
7 0.419 0.076 1.924 2.704
8 0.373 0.136 1.864 2.847
9 0.337 0.184 1.816 2.97
10 0.308 0.223 1.777 3.078
Las constantes para límites de control en las cartas X-S son:
n c4 A A3 B3 B4 B5 B6 .
5 0.940 1.342 1.427 0.000 2.089 0.000 1.964
6 0.952 1.225 1.287 0.030 1.970 0.029 1.874
7 0.959 1..134 1.182 0.118 1.882 0.113 1.806
8 0.965 1.061 1.099 0.185 1.815 0.179 1.751
9 0.969 1.000 1.032 0.239 1.761 0.232 1.707
10 0.973 0.949 0.975 0.284 1.716 0.276 1.669
11 0.975 0.905 0.927 0.321 1.679 0.313 1.637
12 0.978 0.866 0.886 0.354 1.646 0.346 1.610
13 0.979 0.832 0.850 0.382 1.618 0.374 1.585
14 0.981 0.802 0.817 0.406 1.594 0.399 1.563
15 0.982 0.775 0.789 0.428 1.572 0.421 1.544
16 0.984 0.750 0.763 0.448 1.552 0.440 1.526
17 0.985 0.728 0.739 0.466 1.534 0.458 1.511
18 0.985 0.707 0.718 0.482 1.518 0.475 1.496
19 0.986 0.688 0.698 0.497 1.503 0.490 1.483
20 0.987 0.671 0.680 0.510 1.490 0.504 1.470
21 0.988 0.655 0.663 0.523 1.477 0.516 1.459
22 0.988 0.640 0.647 0.534 1.466 0.528 1.448
23 0.989 0.626 0.633 0.545 1.455 0.539 1.438
24 0.989 0.612 0.619 0.555 1.445 0.549 1.429
25 0.990 0.600 0.606 0.565 1.435 0.559 1.420
Página 32 de 32

Más contenido relacionado

La actualidad más candente

Cartas de control
Cartas de controlCartas de control
Cartas de controlEduardo Ray
 
Introducción a Core Tools
Introducción a Core ToolsIntroducción a Core Tools
Introducción a Core ToolsSelvia Zamora
 
Simulacion para ISC - Unidad 1 Introducción a la Simulación
Simulacion para ISC - Unidad 1 Introducción a la SimulaciónSimulacion para ISC - Unidad 1 Introducción a la Simulación
Simulacion para ISC - Unidad 1 Introducción a la SimulaciónJosé Antonio Sandoval Acosta
 
Mapeo de valor (VSM)
Mapeo de valor (VSM)Mapeo de valor (VSM)
Mapeo de valor (VSM)Schz Mario
 
Poka yoke dispositivos a prueba de error
Poka yoke dispositivos a prueba de errorPoka yoke dispositivos a prueba de error
Poka yoke dispositivos a prueba de errorVictor H. Olguin
 
Calidad, productividad y competitividad
Calidad, productividad y competitividadCalidad, productividad y competitividad
Calidad, productividad y competitividadUTPL UTPL
 
Ejemplo de Metricas 6 sigma
Ejemplo de Metricas 6 sigmaEjemplo de Metricas 6 sigma
Ejemplo de Metricas 6 sigmaCris Tenorio
 
Método taguchi y función perdida de la calidad
Método taguchi y función perdida de la calidadMétodo taguchi y función perdida de la calidad
Método taguchi y función perdida de la calidadSergio Paez Hernandez
 
Graficos de control
Graficos de controlGraficos de control
Graficos de controlEloen13
 
Ejemplos Graficas de Control
Ejemplos Graficas de Control Ejemplos Graficas de Control
Ejemplos Graficas de Control franciscoe71
 

La actualidad más candente (20)

La fabrica visual
La fabrica visualLa fabrica visual
La fabrica visual
 
Cartas de control
Cartas de controlCartas de control
Cartas de control
 
Introducción a Core Tools
Introducción a Core ToolsIntroducción a Core Tools
Introducción a Core Tools
 
Cartas de-control lourdes final
Cartas de-control lourdes finalCartas de-control lourdes final
Cartas de-control lourdes final
 
Simulacion para ISC - Unidad 1 Introducción a la Simulación
Simulacion para ISC - Unidad 1 Introducción a la SimulaciónSimulacion para ISC - Unidad 1 Introducción a la Simulación
Simulacion para ISC - Unidad 1 Introducción a la Simulación
 
Mapa de la cadena de valor vsm 1
Mapa de la cadena de valor vsm 1Mapa de la cadena de valor vsm 1
Mapa de la cadena de valor vsm 1
 
Análisis de la capacidad de un proceso
Análisis de la capacidad de un procesoAnálisis de la capacidad de un proceso
Análisis de la capacidad de un proceso
 
Gráficos de control por atributo1
Gráficos de control por atributo1Gráficos de control por atributo1
Gráficos de control por atributo1
 
Mapeo de valor (VSM)
Mapeo de valor (VSM)Mapeo de valor (VSM)
Mapeo de valor (VSM)
 
Poka yoke dispositivos a prueba de error
Poka yoke dispositivos a prueba de errorPoka yoke dispositivos a prueba de error
Poka yoke dispositivos a prueba de error
 
Cadena cliente proveedor
Cadena cliente proveedorCadena cliente proveedor
Cadena cliente proveedor
 
Calidad, productividad y competitividad
Calidad, productividad y competitividadCalidad, productividad y competitividad
Calidad, productividad y competitividad
 
Ejemplo de Metricas 6 sigma
Ejemplo de Metricas 6 sigmaEjemplo de Metricas 6 sigma
Ejemplo de Metricas 6 sigma
 
Calculo del O.E.E.
Calculo del O.E.E.Calculo del O.E.E.
Calculo del O.E.E.
 
Kanban
KanbanKanban
Kanban
 
Value stream mapping (vsm) 2020
Value stream mapping (vsm) 2020Value stream mapping (vsm) 2020
Value stream mapping (vsm) 2020
 
Método taguchi y función perdida de la calidad
Método taguchi y función perdida de la calidadMétodo taguchi y función perdida de la calidad
Método taguchi y función perdida de la calidad
 
Graficos de control
Graficos de controlGraficos de control
Graficos de control
 
Ejemplos Graficas de Control
Ejemplos Graficas de Control Ejemplos Graficas de Control
Ejemplos Graficas de Control
 
Control Estadistico De Procesos
Control Estadistico De ProcesosControl Estadistico De Procesos
Control Estadistico De Procesos
 

Similar a Capacidad desemp proceso

Solucion de ejercicios_capitulo_7_libro
Solucion de ejercicios_capitulo_7_libroSolucion de ejercicios_capitulo_7_libro
Solucion de ejercicios_capitulo_7_libroDarkmono
 
Capacidadyhabilidaddelproceso 28 de mayo 2012
Capacidadyhabilidaddelproceso 28 de mayo 2012Capacidadyhabilidaddelproceso 28 de mayo 2012
Capacidadyhabilidaddelproceso 28 de mayo 2012Zoniia ALmanza
 
Capacidad y habilidad del proceso
Capacidad y habilidad del procesoCapacidad y habilidad del proceso
Capacidad y habilidad del procesoVicNoee
 
Revista betancourt 3er corte
Revista betancourt 3er corteRevista betancourt 3er corte
Revista betancourt 3er corteRomulo Betancourt
 
Presentación de control estadístico de calidad op iii
Presentación de control estadístico de calidad op iiiPresentación de control estadístico de calidad op iii
Presentación de control estadístico de calidad op iiiadmonapuntes
 
Control estadistico de la calidad
Control estadistico de la calidadControl estadistico de la calidad
Control estadistico de la calidadYaretzy Cota
 
Control estadistico-de-la-calidad
Control estadistico-de-la-calidadControl estadistico-de-la-calidad
Control estadistico-de-la-calidadJCS95
 
Control estadistico-de-la-calidad
Control estadistico-de-la-calidadControl estadistico-de-la-calidad
Control estadistico-de-la-calidadPaola Payán
 
MEDICION DEL DESEMPEÑO DE UNA DE CADENA DE SUMINSTRO .pdf
MEDICION DEL DESEMPEÑO DE UNA DE CADENA DE SUMINSTRO .pdfMEDICION DEL DESEMPEÑO DE UNA DE CADENA DE SUMINSTRO .pdf
MEDICION DEL DESEMPEÑO DE UNA DE CADENA DE SUMINSTRO .pdfJONATHANURIELLOPEZPA
 
Control estadistico de la calidad
Control estadistico de la calidadControl estadistico de la calidad
Control estadistico de la calidadYaretzy Cota
 

Similar a Capacidad desemp proceso (20)

Auditoria de calidad
Auditoria de calidadAuditoria de calidad
Auditoria de calidad
 
Clase_Graficos_Control.pptx.ppt
Clase_Graficos_Control.pptx.pptClase_Graficos_Control.pptx.ppt
Clase_Graficos_Control.pptx.ppt
 
Solucion de ejercicios_capitulo_7_libro
Solucion de ejercicios_capitulo_7_libroSolucion de ejercicios_capitulo_7_libro
Solucion de ejercicios_capitulo_7_libro
 
Capacidadyhabilidaddelproceso 28 de mayo 2012
Capacidadyhabilidaddelproceso 28 de mayo 2012Capacidadyhabilidaddelproceso 28 de mayo 2012
Capacidadyhabilidaddelproceso 28 de mayo 2012
 
Clase semana 6
Clase semana 6Clase semana 6
Clase semana 6
 
Graficas xr
Graficas xrGraficas xr
Graficas xr
 
Capacidad y habilidad del proceso
Capacidad y habilidad del procesoCapacidad y habilidad del proceso
Capacidad y habilidad del proceso
 
Revista betancourt 3er corte
Revista betancourt 3er corteRevista betancourt 3er corte
Revista betancourt 3er corte
 
Control estadistico de procesos
Control estadistico de procesosControl estadistico de procesos
Control estadistico de procesos
 
Presentación de control estadístico de calidad op iii
Presentación de control estadístico de calidad op iiiPresentación de control estadístico de calidad op iii
Presentación de control estadístico de calidad op iii
 
Calculo de cpk
Calculo de cpkCalculo de cpk
Calculo de cpk
 
Control estadístico de procesos 2020
Control estadístico de procesos 2020Control estadístico de procesos 2020
Control estadístico de procesos 2020
 
Capacidad y habilidad del proceso
Capacidad y habilidad del procesoCapacidad y habilidad del proceso
Capacidad y habilidad del proceso
 
Cartas de control
Cartas de controlCartas de control
Cartas de control
 
Control estadistico de la calidad
Control estadistico de la calidadControl estadistico de la calidad
Control estadistico de la calidad
 
Control estadistico-de-la-calidad
Control estadistico-de-la-calidadControl estadistico-de-la-calidad
Control estadistico-de-la-calidad
 
Control estadistico-de-la-calidad
Control estadistico-de-la-calidad Control estadistico-de-la-calidad
Control estadistico-de-la-calidad
 
Control estadistico-de-la-calidad
Control estadistico-de-la-calidadControl estadistico-de-la-calidad
Control estadistico-de-la-calidad
 
MEDICION DEL DESEMPEÑO DE UNA DE CADENA DE SUMINSTRO .pdf
MEDICION DEL DESEMPEÑO DE UNA DE CADENA DE SUMINSTRO .pdfMEDICION DEL DESEMPEÑO DE UNA DE CADENA DE SUMINSTRO .pdf
MEDICION DEL DESEMPEÑO DE UNA DE CADENA DE SUMINSTRO .pdf
 
Control estadistico de la calidad
Control estadistico de la calidadControl estadistico de la calidad
Control estadistico de la calidad
 

Último

TALLER PAEC preparatoria directamente de la secretaria de educación pública
TALLER PAEC preparatoria directamente de la secretaria de educación públicaTALLER PAEC preparatoria directamente de la secretaria de educación pública
TALLER PAEC preparatoria directamente de la secretaria de educación públicaSantiagoSanchez353883
 
Comite Operativo Ciberseguridad 012020.pptx
Comite Operativo Ciberseguridad 012020.pptxComite Operativo Ciberseguridad 012020.pptx
Comite Operativo Ciberseguridad 012020.pptxClaudiaPerez86192
 
Reporte de simulación de flujo del agua en un volumen de control MNVA.pdf
Reporte de simulación de flujo del agua en un volumen de control MNVA.pdfReporte de simulación de flujo del agua en un volumen de control MNVA.pdf
Reporte de simulación de flujo del agua en un volumen de control MNVA.pdfMikkaelNicolae
 
Presentación Proyecto Trabajo Creativa Profesional Azul.pdf
Presentación Proyecto Trabajo Creativa Profesional Azul.pdfPresentación Proyecto Trabajo Creativa Profesional Azul.pdf
Presentación Proyecto Trabajo Creativa Profesional Azul.pdfMirthaFernandez12
 
Manual_Identificación_Geoformas_140627.pdf
Manual_Identificación_Geoformas_140627.pdfManual_Identificación_Geoformas_140627.pdf
Manual_Identificación_Geoformas_140627.pdfedsonzav8
 
IPERC Y ATS - SEGURIDAD INDUSTRIAL PARA TODA EMPRESA
IPERC Y ATS - SEGURIDAD INDUSTRIAL PARA TODA EMPRESAIPERC Y ATS - SEGURIDAD INDUSTRIAL PARA TODA EMPRESA
IPERC Y ATS - SEGURIDAD INDUSTRIAL PARA TODA EMPRESAJAMESDIAZ55
 
4.6 DEFINICION DEL PROBLEMA DE ASIGNACION.pptx
4.6 DEFINICION DEL PROBLEMA DE ASIGNACION.pptx4.6 DEFINICION DEL PROBLEMA DE ASIGNACION.pptx
4.6 DEFINICION DEL PROBLEMA DE ASIGNACION.pptxGARCIARAMIREZCESAR
 
PPT SERVIDOR ESCUELA PERU EDUCA LINUX v7.pptx
PPT SERVIDOR ESCUELA PERU EDUCA LINUX v7.pptxPPT SERVIDOR ESCUELA PERU EDUCA LINUX v7.pptx
PPT SERVIDOR ESCUELA PERU EDUCA LINUX v7.pptxSergioGJimenezMorean
 
Elaboración de la estructura del ADN y ARN en papel.pdf
Elaboración de la estructura del ADN y ARN en papel.pdfElaboración de la estructura del ADN y ARN en papel.pdf
Elaboración de la estructura del ADN y ARN en papel.pdfKEVINYOICIAQUINOSORI
 
Linealización de sistemas no lineales.pdf
Linealización de sistemas no lineales.pdfLinealización de sistemas no lineales.pdf
Linealización de sistemas no lineales.pdfrolandolazartep
 
183045401-Terminal-Terrestre-de-Trujillo.pdf
183045401-Terminal-Terrestre-de-Trujillo.pdf183045401-Terminal-Terrestre-de-Trujillo.pdf
183045401-Terminal-Terrestre-de-Trujillo.pdfEdwinAlexanderSnchez2
 
Unidad 3 Administracion de inventarios.pptx
Unidad 3 Administracion de inventarios.pptxUnidad 3 Administracion de inventarios.pptx
Unidad 3 Administracion de inventarios.pptxEverardoRuiz8
 
SSOMA, seguridad y salud ocupacional. SST
SSOMA, seguridad y salud ocupacional. SSTSSOMA, seguridad y salud ocupacional. SST
SSOMA, seguridad y salud ocupacional. SSTGestorManpower
 
Introducción a los sistemas neumaticos.ppt
Introducción a los sistemas neumaticos.pptIntroducción a los sistemas neumaticos.ppt
Introducción a los sistemas neumaticos.pptEduardoCorado
 
MANIOBRA Y CONTROL INNOVATIVO LOGO PLC SIEMENS
MANIOBRA Y CONTROL INNOVATIVO LOGO PLC  SIEMENSMANIOBRA Y CONTROL INNOVATIVO LOGO PLC  SIEMENS
MANIOBRA Y CONTROL INNOVATIVO LOGO PLC SIEMENSLuisLobatoingaruca
 
clases de dinamica ejercicios preuniversitarios.pdf
clases de dinamica ejercicios preuniversitarios.pdfclases de dinamica ejercicios preuniversitarios.pdf
clases de dinamica ejercicios preuniversitarios.pdfDanielaVelasquez553560
 
Presentación N° 1 INTRODUCCIÓN Y CONCEPTOS DE GESTIÓN AMBIENTAL.pdf
Presentación N° 1 INTRODUCCIÓN Y CONCEPTOS DE GESTIÓN AMBIENTAL.pdfPresentación N° 1 INTRODUCCIÓN Y CONCEPTOS DE GESTIÓN AMBIENTAL.pdf
Presentación N° 1 INTRODUCCIÓN Y CONCEPTOS DE GESTIÓN AMBIENTAL.pdfMIGUELANGELCONDORIMA4
 
Flujo potencial, conceptos básicos y ejemplos resueltos.
Flujo potencial, conceptos básicos y ejemplos resueltos.Flujo potencial, conceptos básicos y ejemplos resueltos.
Flujo potencial, conceptos básicos y ejemplos resueltos.ALEJANDROLEONGALICIA
 
sistema de construcción Drywall semana 7
sistema de construcción Drywall semana 7sistema de construcción Drywall semana 7
sistema de construcción Drywall semana 7luisanthonycarrascos
 
Una estrategia de seguridad en la nube alineada al NIST
Una estrategia de seguridad en la nube alineada al NISTUna estrategia de seguridad en la nube alineada al NIST
Una estrategia de seguridad en la nube alineada al NISTFundación YOD YOD
 

Último (20)

TALLER PAEC preparatoria directamente de la secretaria de educación pública
TALLER PAEC preparatoria directamente de la secretaria de educación públicaTALLER PAEC preparatoria directamente de la secretaria de educación pública
TALLER PAEC preparatoria directamente de la secretaria de educación pública
 
Comite Operativo Ciberseguridad 012020.pptx
Comite Operativo Ciberseguridad 012020.pptxComite Operativo Ciberseguridad 012020.pptx
Comite Operativo Ciberseguridad 012020.pptx
 
Reporte de simulación de flujo del agua en un volumen de control MNVA.pdf
Reporte de simulación de flujo del agua en un volumen de control MNVA.pdfReporte de simulación de flujo del agua en un volumen de control MNVA.pdf
Reporte de simulación de flujo del agua en un volumen de control MNVA.pdf
 
Presentación Proyecto Trabajo Creativa Profesional Azul.pdf
Presentación Proyecto Trabajo Creativa Profesional Azul.pdfPresentación Proyecto Trabajo Creativa Profesional Azul.pdf
Presentación Proyecto Trabajo Creativa Profesional Azul.pdf
 
Manual_Identificación_Geoformas_140627.pdf
Manual_Identificación_Geoformas_140627.pdfManual_Identificación_Geoformas_140627.pdf
Manual_Identificación_Geoformas_140627.pdf
 
IPERC Y ATS - SEGURIDAD INDUSTRIAL PARA TODA EMPRESA
IPERC Y ATS - SEGURIDAD INDUSTRIAL PARA TODA EMPRESAIPERC Y ATS - SEGURIDAD INDUSTRIAL PARA TODA EMPRESA
IPERC Y ATS - SEGURIDAD INDUSTRIAL PARA TODA EMPRESA
 
4.6 DEFINICION DEL PROBLEMA DE ASIGNACION.pptx
4.6 DEFINICION DEL PROBLEMA DE ASIGNACION.pptx4.6 DEFINICION DEL PROBLEMA DE ASIGNACION.pptx
4.6 DEFINICION DEL PROBLEMA DE ASIGNACION.pptx
 
PPT SERVIDOR ESCUELA PERU EDUCA LINUX v7.pptx
PPT SERVIDOR ESCUELA PERU EDUCA LINUX v7.pptxPPT SERVIDOR ESCUELA PERU EDUCA LINUX v7.pptx
PPT SERVIDOR ESCUELA PERU EDUCA LINUX v7.pptx
 
Elaboración de la estructura del ADN y ARN en papel.pdf
Elaboración de la estructura del ADN y ARN en papel.pdfElaboración de la estructura del ADN y ARN en papel.pdf
Elaboración de la estructura del ADN y ARN en papel.pdf
 
Linealización de sistemas no lineales.pdf
Linealización de sistemas no lineales.pdfLinealización de sistemas no lineales.pdf
Linealización de sistemas no lineales.pdf
 
183045401-Terminal-Terrestre-de-Trujillo.pdf
183045401-Terminal-Terrestre-de-Trujillo.pdf183045401-Terminal-Terrestre-de-Trujillo.pdf
183045401-Terminal-Terrestre-de-Trujillo.pdf
 
Unidad 3 Administracion de inventarios.pptx
Unidad 3 Administracion de inventarios.pptxUnidad 3 Administracion de inventarios.pptx
Unidad 3 Administracion de inventarios.pptx
 
SSOMA, seguridad y salud ocupacional. SST
SSOMA, seguridad y salud ocupacional. SSTSSOMA, seguridad y salud ocupacional. SST
SSOMA, seguridad y salud ocupacional. SST
 
Introducción a los sistemas neumaticos.ppt
Introducción a los sistemas neumaticos.pptIntroducción a los sistemas neumaticos.ppt
Introducción a los sistemas neumaticos.ppt
 
MANIOBRA Y CONTROL INNOVATIVO LOGO PLC SIEMENS
MANIOBRA Y CONTROL INNOVATIVO LOGO PLC  SIEMENSMANIOBRA Y CONTROL INNOVATIVO LOGO PLC  SIEMENS
MANIOBRA Y CONTROL INNOVATIVO LOGO PLC SIEMENS
 
clases de dinamica ejercicios preuniversitarios.pdf
clases de dinamica ejercicios preuniversitarios.pdfclases de dinamica ejercicios preuniversitarios.pdf
clases de dinamica ejercicios preuniversitarios.pdf
 
Presentación N° 1 INTRODUCCIÓN Y CONCEPTOS DE GESTIÓN AMBIENTAL.pdf
Presentación N° 1 INTRODUCCIÓN Y CONCEPTOS DE GESTIÓN AMBIENTAL.pdfPresentación N° 1 INTRODUCCIÓN Y CONCEPTOS DE GESTIÓN AMBIENTAL.pdf
Presentación N° 1 INTRODUCCIÓN Y CONCEPTOS DE GESTIÓN AMBIENTAL.pdf
 
Flujo potencial, conceptos básicos y ejemplos resueltos.
Flujo potencial, conceptos básicos y ejemplos resueltos.Flujo potencial, conceptos básicos y ejemplos resueltos.
Flujo potencial, conceptos básicos y ejemplos resueltos.
 
sistema de construcción Drywall semana 7
sistema de construcción Drywall semana 7sistema de construcción Drywall semana 7
sistema de construcción Drywall semana 7
 
Una estrategia de seguridad en la nube alineada al NIST
Una estrategia de seguridad en la nube alineada al NISTUna estrategia de seguridad en la nube alineada al NIST
Una estrategia de seguridad en la nube alineada al NIST
 

Capacidad desemp proceso

  • 1. CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO H. Hernández / P. Reyes Sept. 2007 Página 1 de 32
  • 2. CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO CONTENIDO 1. Introducción a. Definiciones básicas b. Objetivos c. Partes fuera de especificaciones d. Variación a corto y a largo plazo 2. Cálculo de la capacidad del proceso a. Condiciones y fórmulas para el estudio de capacidad b. Capacidad a partir de histogramas c. Capacidad a partir de papel de probabilidad normal d. Otros índices de capacidad del proceso 3. Cálculo del desempeño de los proceso 4. Capacidad y desempeño de procesos con Minitab 5. Capacidad de procesos no normales 6. Capacidad de procesos por atributos Página 2 de 32
  • 3. CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO 1. Introducción Al planear los aspectos de calidad de la manufactura, es sumamente importante asegurarse de antemano de que el proceso será capaz de mantener las tolerancias. En las décadas recientes ha surgido el concepto de capacidad del proceso ó habilidad del proceso, que proporciona una predicción cuantitativa de qué tan adecuado es un proceso. La habilidad del proceso es la variación medida, inherente del producto que se obtiene en ese proceso. 1 a. Definiciones básicas. • Proceso: Éste se refiere a alguna combinación única de máquinas, herramientas, métodos, materiales y personas involucradas en la producción. • Capacidad o habilidad: Esta palabra se usa en el sentido de aptitud, basada en el desempeño probado, para lograr resultados que se puedan medir. • Capacidad del proceso: Es la aptitud del proceso para producir productos dentro de los límites de especificaciones de calidad. • Capacidad medida: Esto se refiere al hecho de que la capacidad del proceso se cuantifica a partir de datos que, a su vez, son el resultado de la medición del trabajo realizado por el proceso. • Capacidad inherente: Se refiere a la uniformidad del producto que resulta de un proceso que se encuentra en estado de control estadístico, es decir, en ausencia de causas especiales o atribuibles de variación. Página 3 de 32
  • 4. CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO • Variabilidad natural: Los productos fabricados nunca son idénticos sino que presentan cierta variabilidad, cuando el proceso está bajo control, solo actúan las causas comunes de variación en las características de calidad. • Valor Nominal: Las características de calidad tienen un valor ideal óptimo que es el que desearíamos que tuvieran todas las unidades fabricadas pero que no se obtiene, aunque todo funcione correctamente, debido a la existencia de la variabilidad natural. 1b. Objetivos1 1. Predecir en que grado el proceso cumple especificaciones. 2. Apoyar a diseñadores de producto o proceso en sus modificaciones. 3. Especificar requerimientos de desempeño para el equipo nuevo. 4. Seleccionar proveedores. 5. Reducir la variabilidad en el proceso de manufactura. 6. Planear la secuencia de producción cuando hay un efecto interactivo de los procesos en las tolerancias. p = porcentaje de medidas bajo la curva de probabilidad fuera de especificaciones. 1 Douglas C. Montgomery, Introduction to Statistical Quality Control, Second Edition, pp 307 Página 4 de 32
  • 5. CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO 1c. Partes fuera de especificaciones En el área sombrada observamos medidas fuera de los límites de especificación. Para solucionar este problema, podemos reducir la desviación estándar. También podríamos cambiar la media. Lo ideal sería, por supuesto cambiar ambas. Página 5 de 32
  • 6. CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO 1d. Variación a corto plazo y a largo plazo Existen dos maneras de expresar la variabilidad: Variación a corto plazo (Zst) – Los datos son colectados durante un periodo de tiempo suficientemente corto para que sea improbable que haya cambios y otras causas especiales. Las familias de variación han sido restringidas de tal manera que los datos considerados, sólo son los que se obtuvieron del subgrupo racional. Ayuda a determinar subgrupos racionales importantes. Variación a Largo Plazo(Zlt) – Los datos son colectados durante un periodo de tiempo suficientemente largo y en condiciones suficientemente diversas para que sea probable que incluya todos los cambios de proceso y otras causas especiales. Aquí todas las familias de variación exhiben su contribución en la variación del proceso general. Página 6 de 32
  • 7. CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO En el caso del corto plazo: Para el cálculo de Z utilizamos las siguientes formulas: ( ) ST st stddesv nomespeciflímite Z . .. − = LT LT stddesv mediaespeciflímite Z . . − = dónde: Zst = variación a corto plazo. nom = Valor nominal u objetivo Zlt = variación a largo plazo. Z shift.- A largo plazo los procesos tienen un desplazamiento natural de 1.5 desviaciones estándar, de acuerdo a lo observado por Motorota Inc. Zlt = Zst-1.5shift 2. Cálculo de la capacidad del proceso Antes de calcular la capacidad del proceso, el proceso debe estar en control estadístico. 2a. Condiciones y fórmulas para el estudio de capacidad del proceso Página 7 de 32
  • 8. CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO Para realizar un estudio de capacidad es necesario que se cumplan los siguientes supuestos2 : • El proceso se encuentre bajo control estadístico, es decir sin la influencia de fuerzas externas o cambios repentinos. Si el proceso está fuera de control la media y/o la desviación estándar del proceso no son estables y, en consecuencia, su variabilidad será mayor que la natural y la capacidad potencial estará infravalorada, en este caso no es conveniente hacer un estudio de capacidad. • Se recolectan suficientes datos durante el estudio de habilidad para minimizar el error de muestreo para los índices de habilidad. Si los datos se componen de menos de 100 valores, entonces deben calcularse los límites de confianza inferiores. • Los datos se recolectan durante un periodo suficientemente largo para asegurar que las condiciones del proceso presentes durante el estudio sean representativos de las condiciones actuales y futuras. En el caso de la industria automotriz se especifican 300 partes mínimo. • El parámetro analizado en el estudio sigue una distribución de probabilidad normal, de otra manera, los porcentajes de los productos asociados con los índices de capacidad son incorrectos y solo se podrán determinar los índices de desempeño del proceso, que no toma en cuenta si el proceso está en control o no. También es importante al realizar un estudio de capacidad, asegurarnos que la variación en el sistema de medición no sea mayor al 10%. Para calcular la habilidad o capacidad potencial, primero se determina la desviación estándar estimada de la población como sigue: 2 J.M. Juran, Análisis y planeación de la Calidad, Tercera Edición Mc. Graw Hill, Pp.404 Página 8 de 32
  • 9. CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO 2d R ST =σ ( ) ST p LIELSE C σ6 − = donde: Cp = capacidad potencial LSE = límite superior de especificaciones LIE = límite inferior de especificaciones STσ = desviación estándar a corto plazo El índice Cp debe ser 33.1≥ para tener el potencial de cumplir con especificaciones (LIE, LSE) Los valores Z se determinan como sigue: ST I XLIE Z σ − = ST S XLSE Z σ − = Para calcular la ha bilidad o capacidad real utilizamos la siguiente fórmula: 3 , SI pk ZZmenor C = Para que el proceso cumpla con las especificaciones el Cpk= debe de ser 33.1≥ . Página 9 de 32
  • 10. CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO 2b. Capacidad a partir de histogramas Procedimiento: 1. Seleccionar un proceso específico para realizar el estudio 2. Seleccionar las condiciones de operación del proceso 3. Seleccionar un operador entrenado 4. El sistema de medición debe tener habilidad (error R&R < 10%) 5. Cuidadosamente recolectar la información 6. Construir un histograma de frecuencia con los datos 7. Calcular la media y desviación estándar del proceso 8. Calcular la capacidad del proceso. Ejemplo 1: Tenemos la siguiente serie de datos: 265 205 263 307 220 268 260 234 299 197 286 274 243 231 267 281 265 214 346 317 242 258 276 300 208 187 264 280 242 260 321 228 250 299 258 267 265 254 281 294 223 260 308 235 283 200 235 246 328 296 276 264 269 235 221 176 248 263 231 334 280 265 272 265 262 271 245 301 280 274 253 287 261 248 260 274 337 250 278 254 274 278 250 265 270 298 257 210 280 269 215 318 271 293 277 290 283 258 275 Agrupando los datos por intervalos de clase obtenemos los datos mostrados en la siguiente tabla: Intervalo de clase Marca de clase Frecuencia Frecuencia relativa Frecuencia acumulada 190-209 199.5 6 0.06 0.06 210-229 219.5 7 0.07 0.13 230-249 239.5 13 0.13 0.26 250-269 259.5 32 0.32 0.58 270-289 279.5 24 0.24 0.82 290-309 299.5 11 0.11 0.93 310-329 319.5 4 0.04 0.97 330-349 339.5 3 0.03 1 Página 10 de 32
  • 11. CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO El histograma es el siguiente: 360330310290260230210190160 40 30 20 10 0 Dat os Frequency Histogram of Datos Observamos que el histograma tiene forma normal. Calculando la media y la desviación estándar tenemos: Descriptive Statistics: Datos Variable N N* Mean SE Mean StDev Minimum Q1 Median Q3 Datos 99 0 264.19 3.23 32.15 176.00 248.00 265.00 280.00 19.264=X S = 32.15 La variabilidad del proceso se encuentra en 6 s = 192.90 Si las especificaciones fueran LIE = 200 y LSE = 330 Página 11 de 32
  • 12. CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO ( ) S LIELSE Cp 6 − = ( ) 674. 90.192 200330 = − = < 1.33, el proceso no es hábil. ( ) 046.2 15.32 19.264330 = − =iZ ( ) 996.1 15.32 19.264200 −= − =sZ 66.0 3 2 3 , === SI pk ZZmenor C Cpk = menor 1.33, por lo tanto el proceso no cumple especificaciones. 2c. Capacidad a partir de papel normal Ventajas 1. Se puede observar el comportamiento del proceso sin tomar tantos datos como en el histograma, 10 son suficientes 2. El proceso es más sencillo ya que no hay que dividir el rango de la variable en intervalos de clase como en el histograma. 3. Visualmente se puede observar la normalidad de los datos, si se apegan a la línea de ajuste Página 12 de 32
  • 13. CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO 4. Permite identificar la media y la desviación estándar aproximada del proceso. Así como la fracción defectiva, el porcentaje de datos entre cierto rango, el Cp y el Cpk. Procedimiento 1. Se toman al menos n = 10 datos y se ordenan en forma ascendente, asignándoles una posición ( j ) entre 1 y n. 2. Se calcula la probabilidad de cada posición con la fórmula siguiente: Pj = (j - 0.5) / n 3. En el papel especial normal se grafica cada punto (Xj, Pj) 4. Se ajusta una línea recta que mejor aproxime los puntos 5. Si no hay desviaciones mayores de la línea recta, se considera normal el proceso y se procede a hacer las identificaciones: La media será el punto en X correspondiente a Pj = 0.5 La desviación estándar es la diferencia en Xj correspondiente a Pj = 0.5 y Pj = 0.84 Ejemplo 2 . Se tomaron los datos siguientes (Xj) ordenamos los datos y, cálculamos la probabilidad de su posición (Pj) Pos. J Xj Pj 1 197 0.025 2 200 0.075 3 215 0.125 4 221 0.175 Página 13 de 32
  • 14. CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO 5 231 0.225 6 242 0.275 7 245 0.325 8 258 0.375 9 265 0.425 10 265 0.475 11 271 0.525 12 275 0.575 13 277 0.625 14 278 0.675 15 280 0.725 16 283 0.775 17 290 0.825 18 301 0.875 19 318 0.925 20 346 0.975 Con ayuda del gráfico podemos obtener la media, la desviación estándar y el porcentaje de valores que se encuentran fuera de especificaciones. El trazo normal es el siguiente: El eje Y es un rango no lineal de probabilidades normales. El eje X es un rango lineal de la variable que se está analizando. Si los datos son normales, la frecuencia de ocurrencias en varios valores Xi, puede predecirse usando una línea sólida como modelo. Por ejemplo, sólo más del 20% de los datos del proceso serían valores de 225 o inferiores. Página 14 de 32
  • 15. CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO 400350300250200150 99 95 90 80 70 60 50 40 30 20 10 5 1 Xj Percent Mean 262.9 StDev 38.13 N 20 AD 0.262 P-Value 0.667 Probability Plot of Xj Normal - 95% CI 2d. Capacidad a partir de cartas de control En casos especiales como estos donde las variaciones presentes son totalmente inesperadas tenemos un proceso inestable ó impredecible. Página 15 de 32 0.5 X Media 0.84 Desv. Estándar Xj Pj LIE Fracción Defectiva ? ? ? ? ? ? ?
  • 16. CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO Si las variaciones presentes son iguales, se dice que se tiene un proceso “estable”. La distribución será “predecible” en el tiempo. Cálculo de la desviación estándar del procesoCálculo de la desviación estándar del proceso 2d R =σ ó 4C S =σ (Para cartas de control X-R y X-S respectivamente) Donde, Página 16 de 32 Predicción Tiempo
  • 17. CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO S = Desviación estándar de la población d2 = Factor que depende del tamaño del subgrupo en la carta de control X - R C4 = Ídem al anterior para una carta X - S Al final del texto se muestran las constantes utilizadas para las cartas de control. En una carta por individuales, d2 se toma para n = 2 y Rango Medio = Suma rangos / (n -1) Página 17 de 32
  • 18. CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO Ejemplo 3 (carta X - R) De una carta de control X - R (con subgrupo n = 5) se obtuvo lo siguiente, después de que el proceso se estabilizó quedando sólo con causas comunes: x = 64.06 , R = 77.3 Por tanto estimando los parámetros del proceso se tiene: ( )mediasdemediax=µ 23.33 326.2 3.77 2 === d R σ Si el límite de especificación es: LIE = 200. El ( ) 23.333 06.264200 × − =pkC = 0.64 por tanto el proceso no cumple con las especificaciones. Ejemplo 4 (carta X - S) De una carta de control X - S (con subgrupo n = 5) se obtuvo lo siguiente, después de que el proceso se estabilizó quedando sólo con causas comunes: 05.1,100 == sx Por tanto estimando los parámetros del proceso se tiene: 100== xµ Página 18 de 32
  • 19. CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO 4C s =σ = 117.1 094. 05.1 = C4 para n = 5 tiene el valor 0.94 Si el límite de especificación es: LIE = 85 y el LSE = 105. El ( ) 492.1 117.13 100105 = × − =pkC El ( ) 984.2 117.16 85105 = × − =pC Por lo tanto el proceso es capaz de cumplir con especificaciones. Ejemplo 5: De una carta de control X - R (con subgrupos de n = 5), después de que el proceso se estabilizó quedando sólo con causas comunes, se obtuvo lo siguiente: Xmedia de medias = 264.06 Rmedio = 77.3 Por tanto estimando los parámetros del proceso se tiene: µ = X media de medias σ = Rmedio / d2 =77.3 / 2.326 = 33.23 [ d2 para n = 5 tiene el valor 2.326] Si el límite de especificación es: LIE = 200. El Cpk = (200 - 264.06) / (77.3) (3) = 0.64 por tanto el proceso no cumple con las especificaciones Página 19 de 32
  • 20. CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO 2d. Otros índices de capacidad del proceso INDICE DE CAPACIDAD Cpm Es un indicador de capacidad potencial que toma en cuenta el centrado del proceso: Si σ TX V − = donde T es el centro de las especificaciones. 222 )(61 T LIELSE V Cp Cpm −+ − = + = µσ Cuando T es igual a X media del proceso, Cpm = Cp = Cpk INDICE DE CAPACIDAD Cpkm Es un indicador de capacidad real que toma en cuenta el centrado del proceso: Si T es el centro de las especificaciones. 2 1       − + = σ µ T Cpk Cpkm Cuando T es igual a X media del proceso, Cpkm = Cpk 3. Cálculo del desempeño de los procesos Para determinar el Cp y Cpk se requiere que el proceso esté en control estadístico, ya que la desviación estándar de la población se estima con Rango medio / d2 (constante que solo es válida cuando el proceso está en control). Página 20 de 32
  • 21. CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO Para el caso de datos históricos, el proceso no está en control y se puede determinar el desempeño del proceso utilizando la desviación estándar de todos los datos ajustada con una constante C4, denominada Sigma a largo plazo o desviación estándar Overall. 1 )( 1 2 − − = ∑= n XX S n i i 34 )1(4 4 − − = n n C 4C S LT=σ Con la desviación estándar a largo plazo se determinan los índices de desempeño Pp y Ppk no importando si el proceso está en control o no, en este último caso los valores no tienen significado práctico. Para calcular el desempeño potencial del proceso utilizamos la siguiente fórmula: ( ) LT p LIELSE P σ6 − = Página 21 de 32
  • 22. CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO donde: Pp = Índice de desempeño potencial LSE = límite superior de especificaciones LIE = límite inferior de especificaciones LTσ = desviación estándar estimada a largo plazo El índice pP debe ser 33.1≥ para tener el potencial de cumplir con especificaciones (LIE, LSE) Las variables transformadas Z’s son las siguientes: LT XLSE Zs σ − = ; LT I XLIE Z σ − = Para calcular el índice de desempeño real del proceso utilizamos la siguiente fórmula: 3 , SI pk ZZmenor P = Para que el proceso cumpla con las especificaciones el Ppk= debe de ser 1≥ .33. Página 22 de 32
  • 23. CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO Ejercicio 6 De una carta de control X - R (con tamaño de subgrupo n = 5), después de que el proceso se estabilizó quedando sólo con causas comunes (LIE = 36, LSE = 46) se obtuvo lo siguiente: Xmedia de medias = 40 Rmedio = 5 a) Determinar la desviación estándar del proceso b) Determinar los límites de tolerancia natural del proceso c) Determinar la fracción defectiva o porcentaje fuera de especificaciones d) Determinar el Cp e) Determinar el Cpk f) Determinar el Cpm g) Determinar el Cpkm h) Establecer conclusiones de los resultados anteriores Página 23 de 32
  • 24. CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO 4. Capacidad y desempeño de procesos en Minitab Generar 100 datos aleatorios en Minitab con Media = 264.6 y Desviación estándar S = 32.02 con 1. Calc > Random data > Normal 2. Generate 100 Store in columns C1 Mean 264.06 Estándar deviation 32.02 OK Considerando Límites de especificaciones LIE = 200 y LSE = 330 Nos aseguramos que los datos se distribuyan normalmente con la prueba de Ryan como sigue: 3. Stat > Basic statistics > Normalita Test 4. Variable C1 Seleccionar Ryan Joiner test OK El P value debe ser mayor a 0.05 para que los datos se distribuyan normalmente Dat os Percent 350300250200150 99.9 99 95 90 80 70 60 50 40 30 20 10 5 1 0.1 Mean >0.100 269.3 StDev 30.72 N 100 RJ 0.994 P-Value Probability Plot of Datos Normal Otra opción por medio de una gráfica de probabilidad normal, se tiene: Página 24 de 32
  • 25. CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO 5. Graph > Probability plot > Normal 6. Graph Variable C1 7. Distribution Normal OK Los puntos deben quedar dentro del intervalo de confianza para indicar que es normal la distribución. Dat os Percent 400350300250200150 99.9 99 95 90 80 70 60 50 40 30 20 10 5 1 0.1 Mean 0.533 269.3 StDev 30.72 N 100 AD 0.317 P-Value Probability Plot of Datos Normal - 95% CI Determinación de la capacidad del proceso con Minitab Una vez comprobada la normalidad de los datos, determinar la capacidad con: 1. Stat > Quality tools > Capability análisis > Normal 2. Single column C1 Subgroup size 1 Lower Spec 200 Upper spec 330 3. Estimate R-bar OK Los resultados se muestran a continuación: Página 25 de 32
  • 26. CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO 360330300270240210 LSL USL Process Data Sample N 100 StDev (Within) 30.83472 StDev (Ov erall) 30.80011 LSL 200.00000 Target * USL 330.00000 Sample Mean 269.25354 Potential (Within) Capability CCpk 0.70 Ov erall Capability Pp 0.70 PPL 0.75 PPU 0.66 Ppk Cp 0.66 Cpm * 0.70 CPL 0.75 CPU 0.66 Cpk 0.66 Observ ed Performance PPM <  LSL 10000.00 PPM >  USL 30000.00 PPM Total 40000.00 Exp. Within Performance PPM <  LSL 12353.30 PPM >  USL 24415.36 PPM Total 36768.66 Exp. Ov erall Performance PPM <  LSL 12272.69 PPM >  USL 24288.79 PPM Total 36561.48 Within Overall Process Capability of Datos Interpretación: La desviación estándar Within se determina en base al Rango medio y d2 (1.128 para n = 2), con esta se determinan los índices de capacidad potencial Cp y Cpk, así como el desempeño Within, lo cual es adecuado para un proceso en control o normal. La desviación estándar Overall se determina con la desviación estándar de los datos ajustado por el factor C4. Página 26 de 32
  • 27. CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO Opción Six Pack para mostrar toda la información relevante: Determinar la capacidad con: 4. Stat > Quality tools > Capability Six Pack > Normal 5. Single column C1 Subgroup size 5 Lower Spec 200 Upper spec 330 6. Estimate R-bar OK Los resultados se muestran a continuación: IndividualValue 1009080706050403020101 320 240 160 _ X= 269.3 UCL= 361.8 LCL= 176.7 MovingRange 1009080706050403020101 100 50 0 __ MR= 34.8 UCL= 113.6 LCL= 0 Observation Values 10095908580 300 250 200 360330300270240210 400300200 Within Overall Specs Within StDev 30.83472 Cp 0.70 Cpk 0.66 CCpk 0.70 Ov erall StDev 30.80011 Pp 0.70 Ppk 0.66 Cpm * 1 1 Process Capability Sixpack of Datos I Char t M ov ing Range Char t Last 2 5 Obser v at ions Capabilit y H ist ogr am Nor m al Pr ob Plot AD: 0.317, P: 0.533 Capabilit y Plot En este caso de la gráfica de probabilidad normal, los datos siguen una distribución normal. Página 27 de 32
  • 28. CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO 5. Capacidad de procesos no normales. Cuando los datos provienen de poblaciones no normales una opción para realizar el estudio de capacidad de procesos es mediante la distribución Weibull o alguna otra distribución que ajuste a los datos. Ejemplo en Minitab En una compañía se manufacturan losetas para piso, el problema que se tiene es referente a la deformación en las mismas. Se toman 100 mediciones durante 10 días. El límite superior de especificación (USL) = 3.5 mm Realice un estudio de capacidad con la ayuda de Minitab e interprete los resultados. Generar 100 datos aleatorios en Minitab con Factor de forma = 1, Factor de escala = 1 con 8. Calc > Random data > Weibull 9. Generate 100 Store in columns C1 Shape parameter 1.2 Scale parameter 1 Threshold parameter 0 OK Considerando Límites de especificaciones LIE = 0 y LSE = 3.5 Determinar la capacidad con: 7. Stat > Quality tools > Capability análisis > NonNormal 8. Single column C1 Distribution Weibull Lower Spec 0 Upper spec 3.5 9. OK Página 28 de 32
  • 29. CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO Los resultados se muestran a continuación: 3.53.02.52.01.51.00.50.0 USL Process Data Sample N 100 Shape 1.24929 Scale 0.88470 LSL * Target * USL 3.50000 Sample Mean 0.82279 Ov erall Capability Pp * PPL * PPU 0.85 Ppk 0.85 Observ ed Performance PPM <  LSL * PPM >  USL 10000 PPM Total 10000 Exp. Ov erall Performance PPM <  LSL * PPM >  USL 3795.26 PPM Total 3795.26 Process Capability of Datos1 Calculations Based on Weibull Distribution Model El histograma no muestra evidencia de alguna discrepancia seria entre el modelo y los datos, ya que la curva muestra buen ajuste. Sin embargo observamos que algunos datos caen fuera del límite superior de especificación. Lo cual quiere decir que en algunos casos la deformación será mayor a 3.5 mm. El índice Ppk y Ppu3 = 0.85 lo cual nos dice que el proceso no es capaz ya que 0.85<.1.33 3 Los índices Pp y Ppk son similares a los índices Cp y Cpk , se refieren a la capacidad del proceso a largo plazo. Página 29 de 32
  • 30. CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO También observamos que PPM > USL 3,795 lo cual significa que aproximadamente 3,795 PPM estarán fuera de los límites de especificaciones. También se cuenta con la opción Six Pack para esta opción. 6. Capacidad de procesos por atributos Para el caso de atributos, se tienen varios casos: a. Fracción defectiva Para productos defectivos calificados como pasa no pasa, se obtiene una carta de control p de fracción defectiva con tamaño de muestra constante con al menos 25 puntos, y una vez que está en control, se determina su p media. La capacidad del proceso es 1-P media. La capacidad del proceso equivalente para un Cp de debe ser de:  Al menos 99.73% para una capacidad de +- 3 sigmas equivalente a un Cp de 1  Al menos de 99.9936% para un acapacidad equivalente a +-4 sigmas equivalente a un Cp de 1.33.  Para otro valor de P la capacidad equivalente en sigmas se determina dividiendo el valor de P / 2 y obteniendo el valor de Z correspondiente a esa área bajo la curva. La capacidad será de +-Z sigmas. Página 30 de 32
  • 31. CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO b. Número de defectos En este caso se requiere verificar y en todo caso mantener el proceso en control por medio de una carta C o U con muestra constante por al menos 25 puntos. La referencia son el número de defectos X que el cliente acepte. Con la línea media indicando el promedio de defectos o C media, entramos a la tabal binomial o de Poisson tomando como Lamda la C media y como X los defectos aceptables por el cliente. La probabilidad de aceptación mínima debe ser de 99.73% equivalente a un Cp de 1 o de 99.9936% para un Cp de 1.33, cualquier valor inferior indicará falta de capacidad del proceso. Página 31 de 32
  • 32. CAPACIDAD Y DESEMPEÑO DEL PROCESO TABLA DE CONSTANTES PARA EL CALCULO DE LIMITES DE CONTROL Las constantes para límites de control en las cartas X-R son: n A2 D3 D4 d2 2 1.88 0 3.267 1.128 3 1.023 0 2.574 1.693 4 0.729 0 2.282 2.059 5 0.577 0 2.115 2.326 6 0.483 0 2.004 2.534 7 0.419 0.076 1.924 2.704 8 0.373 0.136 1.864 2.847 9 0.337 0.184 1.816 2.97 10 0.308 0.223 1.777 3.078 Las constantes para límites de control en las cartas X-S son: n c4 A A3 B3 B4 B5 B6 . 5 0.940 1.342 1.427 0.000 2.089 0.000 1.964 6 0.952 1.225 1.287 0.030 1.970 0.029 1.874 7 0.959 1..134 1.182 0.118 1.882 0.113 1.806 8 0.965 1.061 1.099 0.185 1.815 0.179 1.751 9 0.969 1.000 1.032 0.239 1.761 0.232 1.707 10 0.973 0.949 0.975 0.284 1.716 0.276 1.669 11 0.975 0.905 0.927 0.321 1.679 0.313 1.637 12 0.978 0.866 0.886 0.354 1.646 0.346 1.610 13 0.979 0.832 0.850 0.382 1.618 0.374 1.585 14 0.981 0.802 0.817 0.406 1.594 0.399 1.563 15 0.982 0.775 0.789 0.428 1.572 0.421 1.544 16 0.984 0.750 0.763 0.448 1.552 0.440 1.526 17 0.985 0.728 0.739 0.466 1.534 0.458 1.511 18 0.985 0.707 0.718 0.482 1.518 0.475 1.496 19 0.986 0.688 0.698 0.497 1.503 0.490 1.483 20 0.987 0.671 0.680 0.510 1.490 0.504 1.470 21 0.988 0.655 0.663 0.523 1.477 0.516 1.459 22 0.988 0.640 0.647 0.534 1.466 0.528 1.448 23 0.989 0.626 0.633 0.545 1.455 0.539 1.438 24 0.989 0.612 0.619 0.555 1.445 0.549 1.429 25 0.990 0.600 0.606 0.565 1.435 0.559 1.420 Página 32 de 32