Este documento describe diferentes diagramas de control estadístico utilizados para monitorear procesos de manufactura, incluyendo diagramas de control para variables (X-R y X-S) y atributos (P, NP, C, U). Explica la diferencia entre variables y atributos, y cómo cada diagrama calcula sus límites de control. También proporciona un ejemplo para interpretar señales de fuera de control en diagramas de atributos.